[实用新型]一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置

权利要求书

1.一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，包括固定设于竖立式进料通道的进料光传感器、B档光传感器、A档光传感器、第一比较器和第二比较器，所述进料光传感器、B档光传感器和A档光传感器自下向上依次排列，所述进料光传感器的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述进料光传感器的受光器位于被测芯片的下方/上方，所述B档光传感器的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述B档光传感器的受光器位于被测芯片的下方/上方，所述A档光传感器的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述A档光传感器的受光器位于被测芯片的下方/上方，

其特征在于：测试装置还包括用于将B档光传感器或者A档光传感器择一接至第二比较器的传感器选择器件、用于载入被测芯片档案并且根据被测芯片的档案来切换传感器选择器件所选通的传感器的单片机以及与单片机电连接的显示屏，

进料光传感器发送电平至第一比较器，第一比较器根据预设的第一电压基准值输出第一比较结果至单片机，B档光传感器或者A档光传感器发送电平至第二比较器，第二比较器根据预设的第二基准值输出第二比较结果至单片机，

被测芯片档案载入单片机，显示屏显示被测芯片档案，单片机根据第一比较结果和第二比较结果更新被测芯片档案，

B档光传感器与进料通道的底部在沿进料通道的长度方向的距离W小于两款被测芯片中长芯片的长度A，并且大于被测芯片中短芯片的长度B。

2.如权利要求1所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述传感器选择器件为双刀单掷开关。

3.如权利要求2所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述进料光传感器、B档光传感器和A档光传感器均为光耦传感器。

4.如权利要求3所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述进料光传感器的发光器的正极接第一电源、进料光传感器的发光器的负极接B档光传感器的发光器的正极，B档光传感器的发光器的负极接A档光传感器的发光器的正极，A档光传感器的发光器的负极接地，进料光传感器的受光器的集电极、进料光传感器的受光器的集电极以及进料光传感器的受光器的集电极均接第二电源，进料光传感器的受光器的发射极接第一比较器的一个输入端，第一比较器的另一个输入端接第一基准电压源，第一比较器的输出端接单片机，B档光传感器的受光器的发射极接双刀单掷开关的一个常开触点，双刀单掷开关的常闭触点接第二比较器的一个输入端，第二比较器的另一个输入端接第二基准电压源，第二比较器的输出端接单片机。

5.如权利要求4所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述第一基准电压源包括第一可变电阻器。

6.如权利要求4所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述第二基准电压源包括第二可变电阻器。

7.如权利要求4所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述第一电源为+4.5V。

8.如权利要求4所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述第二电源为+24V。