[实用新型]用于金属带材内部缺陷检测的磁敏传感器检测探头装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种漏磁检测技术，尤其涉及一种用于金属带材内部缺陷检测的磁敏传感器检测探头装置。

背景技术

带钢内部缺陷是冷轧薄带产品的主要质量缺陷之一，特别是对于DI材和电磁钢等特殊用途的带钢产品。在这类带钢产品中，若出现内部缺陷，会导致泄漏等风险，对下游厂家造成很大的质量纠纷，带来很多不必要的麻烦。因此在某些冷轧带钢生产线，生产过程中必须检验内部质量缺陷情况，防止将缺陷产品交付用户。由于冷轧带钢产品生产是高速和自动化过程，产品离线检测存在抽样风险。

检查带钢内部缺陷的方法为漏磁法和电磁超声法等探伤方法。目前比较成熟的技术是漏磁检测法。在漏磁检测中，传感器多采用电磁线圈、霍尔元件或者磁敏元件。在缺陷检测过程中，均需要多个传感器构成磁敏传感器阵列来实现内部缺陷检测。因此，这就需要对磁敏传感器检测探头进行精巧的工艺设计，以保证其能够实现对金属带材（带钢）全宽检测，且对外界电磁干扰能进行最大限度的屏蔽。

通过专利检索，关于金属带材内部缺陷检测装置相关的专利主要是日本专利：日本专利JP07038956U介绍了一种用于漏磁检测的传感器，该传感器采用线圈方式进行设计，可以对金属带材里面的内部缺陷进行检测。日本专利JP2004191220A介绍了一种利用线圈式传感器进行漏磁检测的装置。日本专利JP2010054292A介绍了一种利用磁敏传感器对带钢内部缺陷检测的方法，检测到漏磁信号后可对信号进行分析，并确定缺陷大小。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种用于金属带材内部缺陷检测的磁敏传感器检测探头装置，该检测探头装置是基于漏磁检测原理进行内部缺陷检测，磁敏传感器阵列构成检测探头，实现对金属带材上的微小内部缺陷进行检测。

为了实现上述技术目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种用于金属带材内部缺陷检测的磁敏传感器检测探头装置，包括传感器阵列、基板、滤波电路、外壳、散热模块和位置传感器；所述传感器阵列由多个单体传感器经有序排列而成，多个单体传感器安装于基板一面上，单体传感器连接于滤波电路，滤波电路安装于基板另一面上，外壳将传感器阵列、基板和滤波电路包围，外壳内壁上还安装有散热模块，散热模块包括散热片和风扇，散热模块对着滤波电路和基板进行散热；所述位置传感器安装于基板上，用以检测传感器到金属带材的距离。

所述传感器阵列的单体传感器为磁敏传感器，包括磁阻传感器或者霍尔传感器。

所述传感器阵列的多个单体传感器呈前后两排排列,交错覆盖在整个金属带材宽度上。

所述传感器阵列的单体传感器数量n，由待测带材宽度W和单体传感器有效检测宽度d决定：。

本实用新型的磁敏传感器检测探头装置主要针对漏磁装置实现的一种检测探头装置，该检测探头装置的传感器阵列呈前后两排交错覆盖在待测金属带材整个宽度方向上，传感器阵列和滤波电路安装在基板上，基板固定在检测探头壳体上，同时检测探头上还配备有散热模块和位置传感器，以保证其能够持续稳定和安全检测。整个检测探头外壳采用磁屏蔽材料制成，其检测性能卓越，应用前景广阔。

本实用新型的检测探头装置是基于漏磁检测原理进行内部缺陷检测，磁敏传感器阵列构成检测探头，实现对金属带材上的微小内部缺陷进行检测。

附图说明

图1为本实用新型用于金属带材内部缺陷检测的磁敏传感器检测探头装置结构示意图；

图2为传感器阵列的单体传感器排列示意图；

图3为本实用新型的磁敏传感器检测探头装置具体应用示意图。

图中：1传感器阵列，2基板，3滤波电路，4外壳，5散热模块，6位置传感器。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明。

参见图1和图2，一种用于金属带材内部缺陷检测的磁敏传感器检测探头装置，包括传感器阵列1、基板2、滤波电路3、外壳4、散热模块5和位置传感器6；

所述传感器阵列1由多个单体传感器经有序排列而成，多个单体传感器安装于基板2一面上，单体传感器连接于滤波电路3，滤波电路3安装于基板另一面上，基板2和滤波电路3共同构成传感阵列模块。