[实用新型]一种X射线无损探伤检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及无损探伤领域，特别涉及一种X射线无损探伤检测设备。

背景技术

无损探伤是在不损坏工件或原材料工作状态的前提下，对被检验部件的表面和内部质量进行检查的一种测试手段。常用的无损探伤方法有：X光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤、涡流探伤、γ射线探伤、萤光探伤、着色探伤等方法。

随着人们生活质量的提高，对品质的追求越来越高，X射线检测作为无损探伤的核心技术之一也得到了更大更广范围内的应用。

由于X射线的检测需求越来越多，对X射线检测的装置提出了更高的要求：生产效率要达到客户的检测速度。同时考虑到公司的整体成本—占地面积，要提高单位面积内的产出率，对设备的尺寸要求要尽量小。由于大多数情况下要检测的工件为铸造件，有一定的重量，再加上要多个角度进行图像拍摄和分析，所设计的尺寸都是比较庞大的，否则很难满足其产出的要求。在确保性能的情况下，尽可能的减小装置的尺寸也变得非常有必要。

发明内容

本发明的目的是针对上述问题，提供一种X射线无损探伤检测设备。

为实现上述目的，本发明采用的方法是：一种X射线无损探伤检测设备，包括铅房、旋转工件台、控制台、五轴机构以及主电柜；所述的旋转工件台集成在铅房上，旋转工件台包括内部结构和外部结构，其中内部结构为检测台，外部结构为取工件和上工件台，所述的内部结构和外部结构可进行180°旋转，所述的控制台包括控制主机，显示器和监视器；所述的五轴机构是由X轴；Y轴；Z轴；RX轴；RY轴构成，整五轴机构安装在铅房内部底板上，在所述的五轴机构上安装有X射线探伤器。

作为本实用新型的一种改进，在所述的铅房外部设置有X射线打开指示灯。

有益效果：

本实用新型提供的X射线无损探伤检测设备，通过设置五轴机构进行无损探伤检测，其检测效率高，并且占地空间小，同时通过设置旋转工件台进行上下料，进一步地提高了检测的效率，提高了工作效率。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图中各构件为：

1铅房、2旋转工件台、3控制台、4五轴机构、5主电柜、6X射线打开指示灯。

具体实施方式

下面结合实施例并参照附图对本实用新型作进一步描述，应理解下述具体实施方式仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是幅图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。

如图1所述一种X射线无损探伤检测设备，包括铅房1、旋转工件台2、控制台3、五轴机构4、X射线打开指示灯6以及主电柜5；所述的旋转工件台2集成在铅房1上，旋转工件台2包括内部结构和外部结构，其中内部结构为检测台，外部结构为取工件和上工件台，所述的内部结构和外部结构可进行180°旋转。在工作时，在铅房1内部的工件检测完成后，旋转工件台2进行180度旋转，将检测完成的工件输送到外部平台，同时将在外部上的工件输送到铅房1内部进行检测。

所述的控制台3包括控制主机，显示器和监视器，可以根据客户的需要进行位置调整，检测的结果也主要在显示器上进行显示。所述的五轴机构4是由X轴；Y轴；Z轴；RX轴；RY轴构成，整五轴机构4安装在铅房1内部底板上，在所述的五轴机构上安装有X射线探伤器。它可以根据需要运动到任何的位置和角度，对工件进行拍摄。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非是对本实用新型作任何其他形式的限制，而依据本实用新型的技术实质所作的任何修改或等同变化，仍属于本实用新型所要求保护的范围。