[实用新型]一种快速恢复二极管有效

专利信息
申请号: 201520769928.6 申请日: 2015-09-30
公开(公告)号: CN204991719U 公开(公告)日: 2016-01-20
发明(设计)人: 吴迪;刘钺杨;何延强;董少华;曹功勋;刘江;金锐;温家良 申请(专利权)人: 国网智能电网研究院;国网上海市电力公司;国家电网公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06;H01L29/40;H01L29/66;H01L21/28
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人: 徐国文
地址: 102211 北京市昌平区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 快速 恢复 二极管
【权利要求书】:

1.一种快速恢复二极管,所述二极管包括:具有三个具有间隔的P型硅区(3)的且表面有氧化层(2)的N型硅衬底(1),所述氧化层(2)上的多晶层(5),所述多晶层(5)上的阳极金属层和所述N型硅衬底(1)上与其相对的阴极金属层,其特征在于,所述P型硅区(3)具有深能级掺杂区(4)。

2.根据权利要求1所述的快速恢复二极管,其特征在于,居中的所述P型硅区(3)为有源区,两边的为终端保护区。

3.根据权利要求1所述的快速恢复二极管,其特征在于,所述P型硅区(3)的深度为5-25μm。

4.根据权利要求1所述的快速恢复二极管,其特征在于,所述氧化层(2)的厚度为

5.根据权利要求1所述的快速恢复二极管,其特征在于,所述多晶层(5)的材料为硅,厚度为

6.根据权利要求1所述的快速恢复二极管,其特征在于,所述深能级掺杂区(4)的掺杂杂质为金、铂或钯。

7.根据权利要求1所述的快速恢复二极管,其特征在于,所述深能级掺杂区(4)的深度小于所述P型硅区(3)。

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