[实用新型]微波器件的测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及微波测量技术领域，特别是涉及一种微波器件的测试装置。

背景技术

微波测试仪器的连接线缆大多为同轴线，因此在设计微波器件时，一般将输入输出接口设计为同轴接口形式，以便于微波器件的测试。但是，在某些特殊的应用场景下，微波器件的输入输出接口只能设计为微带线接口，如微波隔离器、微波环形器等，而这种微波器件无法直接进行测试。现有技术采取的做法是，将这种微波器件装入测试夹具中，通过金丝焊接的方式将微带线接口引出到同轴连接器，从而进行测试。但是，这种测试方法的存在以下缺点：

(1)测试夹具自身会引入一定的测试误差，而且误差会随着频率的升高而增大；

(2)对于微波环形器等微波器件，由于器件之间的一致性较差，要求出厂时测量每个器件的微波S参数，然而，这类器件往往批量生产，如果每个器件都通过测试夹具进行测试的话，无疑会带来巨大的工作量；

(3)金丝焊接过程和装配过程中会造成微波器件损伤。

因此，目前亟需一种能够大批量测试输入输出接口为微带线接口的微波器件的测试方式。

实用新型内容

本实用新型主要解决的技术问题是提供一种微波器件的测试装置，能够将微波器件的微带线接口转换为同轴接口，并进行大批量测试。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种微波器件的测试装置，包括底座、弹性连接器、电路测试板以及与所述底座相配套的盖板，所述底座上设有多个用于放置微波器件的容置槽，所述盖板上设有多个与所述容置槽的位置对应的通孔，所述弹性连接器设于所述通孔内，所述盖板的上表面设有覆盖所有所述通孔的凹槽，所述电路测试板与所述凹槽适配并固定在所述凹槽内，其中，当所述盖板与所述底座扣合时，所述弹性连接器的下端弹性压接所述微波器件的微带线接口，所述弹性连接器的上端弹性压接所述电路测试板的同轴接口。

优选地，所述弹性连接器包括毛纽扣、固定帽和介质支撑体，所述毛纽扣具有弹性，所述固定帽包括帽部和与所述帽部连接的杆部，所述介质支撑体设有相连通的上圆柱孔和下圆柱孔，所述上圆柱孔的孔径大于所述下圆柱孔的孔径，所述帽部位于所述上圆柱孔内，所述杆部位于所述下圆柱孔内，所述杆部伸出所述介质支撑体并弹性压接所述微波器件的微带线接口，所述毛纽扣位于所述上圆柱孔内，所述毛纽扣的一端抵接所述帽部，所述毛纽扣的另一端伸出所述介质支撑体并弹性压接所述电路测试板的同轴接口。

优选地，所述毛纽扣呈螺旋状，由表面镀金的铜线编织而成。

优选地，所述介质支撑体由聚四氟乙烯制成。

优选地，所述固定帽由铝或黄铜制成。

优选地，所述底座上设有销钉，所述盖板上设有销钉孔，所述盖板与所述底座通过所述销钉和所述销钉孔扣合。

优选地，所述底座和所述盖板均由铝制成。

优选地，所述电路测试板的下表面设置所述同轴接口，所述电路测试板的上表面设置共面波导传输线。

优选地，所述电路测试板由多层低温共烧陶瓷制成。

优选地，所述电路测试板粘接或焊接在所述凹槽内。

区别于现有技术的情况，本实用新型的有益效果是：

1、弹性连接器属于压接式连接，无需与微波器件焊接，不会对微波器件造成损伤，测试装置可重复使用；

2、可以一次性对微波器件进行大批量测试，并且测试速度快；

3、可以通过去嵌消除测试装置自身对微波器件的影响，测试精度高。

附图说明

图1是本实用新型实施例微波器件的测试装置的侧视示意图。

图2是图1所示测试装置的底座的主视示意图。

图3是图1所示测试装置的A部分放大示意图。

图4是图1所示测试装置的弹性连接器的结构示意图。

图5是图1所示测试装置的电路测试板的一个表面的结构示意图。

图6是图1所示测试装置的电路测试板的另一个表面的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

一并参见图1至图3，本实用新型的微波器件的测试装置包括底座1、弹性连接器2、电路测试板3以及与底座1相配套的盖板4。