[实用新型]全光谱透光率检测仪有效

专利信息
申请号: 201520728970.3 申请日: 2015-09-18
公开(公告)号: CN205120589U 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 蔡晓东 申请(专利权)人: 广州景颐光电科技有限公司
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510000 广东省广州市高新技术产业开*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光谱 透光率 检测
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及检测仪器技术领域,具体涉及一种全光谱透光率检测仪。

背景技术

市场现有透光率仪器的发射光源光斑大及其构造,无法对漫散射材料、非平面材料、体积小的产品进行测量,由于市场现有透光率仪器其结构固定,不可调,因此不能适用于各种特殊形状材料的检测。容易导致误判或错判。

发明内容

本实用新型的目的在于:提供一种全光谱透光率检测仪。

为了解决上述技术问题,本实用新型提供了一种全光谱透光率检测仪:

包括有壳体,所述壳体下方设有光源、积分球、光谱仪,所述积分球连接所述光谱仪;所述壳体还包括样品台,所述样品台位于所述积分球的上方;所述壳体的一侧还连接有调节器,所述调节器上连接有聚光镜;所述聚光镜位于所述样品台的上方。

优选的,所述光谱仪侧壁上还有可连接计算机的USB接口。

优选的,所述壳体还包括有电路模块,所述电路模块连接所述光源。

优选的,所述壳体还连接有计算机。

优选的,所述计算机为可实时显示380-1000nm各波段透过率数据和光谱曲线的计算机。

优选的,所述计算机为可计算CIE颜色参数,xy、Lab、主波长、饱和度、色纯度等参数的计算机。

相对于现有技术,本实用新型技术方案的有益效果是:

1、高速控制技术、最短能在1ms积分时间完成测试(传统的光谱分析仪系统结构复杂,需通过旋转光栅对整个光谱进行扫描,测量速度慢)。

2、光栅固定不扫描,保证光学系统稳定,长时间使用不需要重新校准(传统的光谱分析仪需通过旋转光栅对整个光谱进行扫描,时间久了会产生机械偏移,必须重新校准)。

3、光斑大小可调,可适用于不同大小产品的应用(传统的光斑固定不可调节)。

4、CIE颜色坐标检测,可测量产品的颜色值(传统的不可测量颜色值)。

附图说明

图1为本实用新型中全光谱透光率检测仪的结构示意图。

图中,1为计算机,2为光源,3为调节器,4为聚光镜,5为样品台,6为积分球,7为电路模块,8为光谱仪。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型的作进一步的说明。但本实用新型的实施方式并不因此限定于以下实施例。除非特别说明,本实用新型采用的材料和加工方法为本技术领域常用材料和加工方法。

如图1所示,全光谱透光率检测仪,包括有壳体,所述壳体下方设有光源、积分球、光谱仪,所述积分球连接所述光谱仪;所述壳体还包括样品台,所述样品台位于所述积分球的上方;所述壳体的一侧还连接有调节器,所述调节器上连接有聚光镜;所述聚光镜位于所述样品台的上方。

作为具体实施例的改进,所述光谱仪还有可连接计算机的USB接口。

作为具体实施例的改进,所述壳体还包括有电路模块,所述电路模块连接所述光源。

作为具体实施例的改进,所述壳体还连接有计算机。

作为具体实施例的改进,所述计算机为可实时显示380-1000nm各波段透过率数据和光谱曲线的计算机。

作为具体实施例的改进,所述计算机为可计算CIE颜色参数,xy、Lab、主波长、饱和度、色纯度等参数的计算机。

本实用新型涉及的全光谱透光率检测仪采用先进的光谱测量技术,可进行快速全光谱的透光率测量,具有快速、简易、准确等特性。是目前市场上最新款、最精确、性价比最高的透过率专用检测仪器。适用于各种光学元件、平面玻璃、滤光片、IR油墨孔镀膜镜片、显示屏、手机屏、触摸面板、塑料、硅胶材料等产品透过率测量。

产品特点:

1、采用先进光谱测量技术,快速全光谱透过率测量。

2、实时显示380-1000nm各波段透过率数据跟光谱曲线。

3、可计算CIE颜色参数,xy、Lab、主波长、饱和度、色纯度等参数。

根据上述说明书的揭示和教导,本实用新型所属领域的技术人员还可以对上述实施方式进行变更和修改。因此,本实用新型并不局限于上面揭示和描述的具体实施方式,对本实用新型的一些修改和变更也应当落入本实用新型的权利要求的保护范围内。此外,尽管本说明书中使用了一些特定的术语,但这些术语只是为了方便说明,并不对本实用新型构成任何限制。

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