[实用新型]基板处理装置有效
申请号: | 201520728339.3 | 申请日: | 2015-09-18 |
公开(公告)号: | CN204905225U | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
发明(设计)人: | 严用铎;张锡弼 | 申请(专利权)人: | 圆益IPS股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01J37/32 |
代理公司: | 北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384 | 代理人: | 郑青松 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及基板处理装置,更详细地说,利用等离子在基板表面形成多个凹凸的基板处理装置。
背景技术
基板处理装置为,其构成包括形成密闭的内部空间的真空腔室,与设置在真空腔室内来安装基板的基板支撑架,并且将处理气体注入于内部空间的同时施加电源来蚀刻或沉积基板的表面的装置。
被所述基板处理装置处理的基板有半导体用晶圆、LCD面板用玻璃基板、太阳能电池用基板等。
作为所述基板处理装置的一示例基板处理装置为,在基板支撑架上安装太阳能电池用基板之后,在基板的上侧覆盖形成多个开口部的盖部件,为使在基板表面形成微小的凹凸而执行真空处理。
如上所述,作为利用盖部件在基板表面形成多个凹凸的基板处理装置,有韩国公开专利公报第10-2011-0029621号。
另一方面,使用盖部件在基板表面形成微小的凹凸的现有的基板处理装置,根据盖部件的中央部分及边缘位置部分等位置等离子形成条件不同,因此存在在以盖部件的平面位置为基准位于边缘位置部分的基板形成不均匀的微小凹凸,即具有会发生显著色差的问题。
然后,根据形成不均匀的微小凹凸,无法充分地达成根据形成微小凹凸降低反射率效果,因此具有无法充分地提高太阳能电池元件的效率的问题。
实用新型内容
(要解决的问题)
本实用新型提供基板处理装置的目的在于,为了解决如上所述的问题,利用盖部件来在基板表面形成微小凹凸时,能够形成均匀的微小凹凸。(解决问题的手段)
本实用新型是为了达成如上所述的本实用新型的目的而提出的,本实用新型公开的基板处理装置,包括:工序腔室,形成密闭的内部空间并且所述工序腔室电气性接地;基板支撑部,以与所述工序腔室电气性绝缘的状态来进行设置并施加一个以上的RF电源,并且支撑安装一个以上的基板的托架;气体喷射部,设置在所述内部空间的上侧来喷射用于执行基板处理的气体;盖部,从所述基板支撑部间隔距离地覆盖所述一个以上的基板来进行配置,并且形成多个开口部以使由所述气体喷射部喷射的气体流入,并且所述盖部接地。
所述盖部,以被所述托架支撑的状态与所述托架一起被移送,在所述托架安装在所述基板支撑部时与所述工序腔室电气性连接,进而所述盖部被接地。
所述盖部通过与所述工序腔室的内侧壁及底面中的至少一个接触,进而所述盖部被接地。
所述托架及所述盖部的平面形状为矩形形状,所述盖部,以导入到所述工序腔室的方向为基准相互面对的两边比所述托架的边缘更向外侧凸出,并且更凸出的部分与所述工序腔室的内表面电气性接触来接地所述盖部。
所述工序腔室上设置有接地部件,所述接地部件从所述工序腔室的内表面凸出来而在所述托架安装在所述基板支撑部时将所述盖部与所述工序腔室电气性连接。
所述盖部以电气性连接于所述工序腔室的状态可固定或可拆卸地设置在所述工序腔室。
所述盖部被设置在所述工序腔室的支撑部件支撑,并且根据所述支撑部件与所述工序腔室电气性连接。
在所述托架导入所述工序腔室或从所述工序腔室排出时为了防止被干涉,所述盖部可上下移动地设置在所述工序腔室内。
所述工序腔室及所述托架中至少一个,具有用于接地所述托架的一个以上的接地部。
所述基板处理装置执行反应离子蚀刻工艺。
所述基板为太阳能电池用晶体硅基板。
(实用新型的效果)
根据本实用新型的基板处理装置,接地覆盖在托架安装的一个以上的基板的上部的盖部,进而稳定地形成等离子,因此具有能够显著提高工序的均匀度的优点。
在接地盖部的情况,只在由基板支撑架及盖部形成的空间形成等离子,因此在基板附近稳定地形成等离子,进而显著地提高工序的均匀度。
尤其是,根据本实用新型的基板处理装置,如图1所示根据盖部的接地构造在基板表面形成微小凹凸时,相比于使用未接地的盖部,能够确认到对位于盖部平面上的边缘位子的基板形成均匀的微小凹凸。
并且,根据本实用新型的基板处理装置,使覆盖在托架安装的一个以上的基板上部的盖部接地,进而在由基板支撑架及盖部形成的空间形成等离子的形成大部分的等离子,因此具有就算在施加电力相对小的电源,也能够执行稳定且均匀的基板处理的优点。
并且,根据本实用新型的基板处理装置,为了获得相同的效果,根据施加电力相对小的电源,具有相比于施加电力相对大的电源的情况,在产生电弧放电等工序的稳定性方向更有利的优点。
附图说明
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造