[实用新型]一种连续波太赫兹实时水印成像检测装置

权利要求书

1.一种连续波太赫兹实时水印成像检测装置，其特征在于：该装置包括连续波太赫兹辐射源(1)、准直扩束系统(2)、高阻硅片(3)、氩离子激光器(4)、第一离轴抛物面镜(5)、第二离轴抛物面镜(6)、样品台(7)、第三离轴抛物面镜(8)、太赫兹波探测器(9)和计算机(10)；

所述太赫兹波源(1)依次连接准直扩束系统(2)、高阻硅片(3)、第一离轴抛物面镜(5)、第二离轴抛物面镜(6)、样品台(7)、第三离轴抛物面镜(8)、太赫兹波探测器(9)和计算机(10)；

所述氩离子激光器(4)照射到高阻硅片(3)上。

2.根据权利要求1所述的一种连续波太赫兹实时水印成像检测装置，其特征在于：所述的连续波太赫兹辐射源(1)为返波振荡器、量子级联激光器或co2激光抽运连续波太赫兹辐射源。

3.根据权利要求1所述的一种连续波太赫兹实时水印成像检测装置，其特征在于：所述的准直扩束系统(2)为开普勒型或伽利略型准直扩束系统。

4.根据权利要求1所述的一种连续波太赫兹实时水印成像检测装置，其特征在于：所述的高阻硅片(3)厚度h＝400μm，半径r＝25mm，电阻率10000Ωcm。

5.根据权利要求1所述的一种连续波太赫兹实时水印成像检测装置，其特征在于：所述的太赫兹波探测器(9)为焦平面阵列探测器。

6.根据权利要求1或5所述的一种连续波太赫兹实时水印成像检测装置，其特征在于：所述的太赫兹波探测器(9)选用日本NEC公司的IRV-T0831C焦平面阵列相机。