[实用新型]一种手机数据线测试器

说明书

技术领域

本实用新型涉及到电子技术领域，具体涉及到一种手机数据线测试器。

背景技术

目前手机数据线的检测大多通过人工万用表检测，或者通过外部测架工装，顶针连接数据线的金属触点检测。由于测试工装连接线脱落和顶针接触不良等外部因素导致的误判率相当高,且耗时长。

苹果公司iPhone数据线内部芯片和电路有别于常规的其他数据线，数据线电路板尺寸较小，生产过程中数据板，充电板，数据线与充电线半成品和成品线不便手工测量或增加测试点测量，半成品板或焊接线材加工后的检测给很多线材加工厂增加了很多难度！不良率过高一直困扰各个生产商。市场上测试准确高的测试工具很少，用真机测试成本又太高，测试速度太慢，测试结果不直观，给生产和销售带来了诸多不便！

实用新型内容

针对以上问题，本实用新型提供了一种手机数据线测试器，它可以短时间内快速判断出被测品的好坏，并且能准确检测出不良品及不良原因，指导维修人员快速修复处理问题，检测精度高，大大提高了手机数据线检测效率。

为实现以上目的，本实用新型采用的技术方案是：一种手机数据线测试器，它包括MCU主控芯片，所述MCU主控芯片输入端连接有数据线板接口模块、电源输入接口模块、模式切换键模块，输出端连接有模式切换显示灯模块、测试结果显示灯模块、蜂鸣器模块，输入输出端连接有数据线板测试电路模块；所述数据线板测试电路模块包括第一测试模块、第二测试模块、第三测试模块；

所述第一测试模块包括通过栅极与MCU主控芯片的一个IO口单独连接的MOS管Q2；所述MOS管Q2漏极连接有发光二极管D3；所述MOS管Q2源极与MOS管Q5漏极连接；所述MOS管Q5源极与供电电压端连接；所述MOS管Q5的栅极与MCU的一个IO口单独连接；

所述第二测试模块包括通过栅极与MCU主控芯片的一个IO口单独连接的MOS管Q3；所述MOS管Q3源极与供电电压端连接；所述MOS管Q3漏极与数据线板接口模块连接；

所述第三测试模块包括通过栅极与MCU主控芯片的一个IO口单独连接的MOS管Q4；所述MOS管Q4漏极与数据线板连接接口模块连接；所述MOS管Q4源极与电阻R25连接；所述电阻R25另一端接地。

进一步的，所述电源输入接口模块上设置有DC插座接口、USB接口、PIN针接口。

进一步的，所述数据线板接口模块包括数据线板接口部分一和数据线板接口部分二；所述数据线板接口部分一上设置有排线接口P6与手机数据线连接；所述数据线板接口部分二将数据线板接口部分一与MCU主控芯片连接。

进一步的，所述模式切换键模块内设置有按键S1与MCU主控芯片连接。

进一步的，所述模式切换显示灯模块内设置有多个发光二极管，每一个发光二极管的阳极单独与MCU主控芯片的一个IO口连接，二极管的阴极接地。

进一步的，所述测试结果显示灯模块内设置有多个发光二极管，每一个发光二极管的阴极单独与MCU主控芯片的一个IO口连接，二极管的阳极与供电电压端连接。

本实用新型的有益效果：

1、使用范围广，本实用新型可适用于iPhone5/5C/5S和iphone5lightning数据线、数据线板、充电线、充电板的测试，通过更换数据线板接口类型即可适用于安卓系统的数据线板的测试。

2、测试精度高，速度快，采用了MCU芯片自动检测被测的数据板或数据线，被测数据板或数据线插上测试器后，几秒内就能直观的看到检测结果是合格还是不合格，不合格的话又是哪些部分的问题，一一通过LED指示灯进行显示，极大的提高了厂家的生产检测效率。

附图说明

图1为本实用新型系统框图。

图2为MCU主控芯片连接测试结果提示蜂鸣器、模式切换键、指示灯的电路图。

图3为图2中A部分扩大图。

图4为图2中B部分扩大图。

图5为图2中C部分扩大图。

图6为电源输入接口部分电路图。

图7为测试结果状态指示灯电路图。

图8为数据线板接口部分一电路图。

图9为数据线板接口部分二电路图。

图10为第一测试模块电路图。

图11为第二测试模块电路图。

图12为第三测试模块电路图。

具体实施方式

为了使本领域技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面结合附图对本实用新型进行详细描述，本部分的描述仅是示范性和解释性，不应对本实用新型的保护范围有任何的限制作用。