[实用新型]铜氧化膜厚度测量仪

权利要求书

1.铜氧化膜厚度测量仪，包括电解槽，所述电解槽上方开设阳极接口和阴极接口，所述电解槽内设置电解液，其特征在于：还包括信号控制模块，所述信号控制模块包括恒定电流输出模块、电压采样模块、处理模块和通信模块，所述恒定电流输出模块、电压采样模块、通信模块均连接至所述处理模块，所述恒定电流输出模块连接所述阳极接口、所述阴极接口，所述阴极接口、所述阳极接口均连接至所述电压采样模块，所述通信模块用于连接计算机处理系统。

2.根据权利要求1所述的铜氧化膜厚度测量仪，其特征在于：还包括电位传感器，所述电位传感器设置在所述阳极接口上。

3.根据权利要求1或2所述的铜氧化膜厚度测量仪，其特征在于：还包括计算机处理系统，所述通信模块通过RS232串口连接至所述计算机处理系统。

4.根据权利要求3所述的铜氧化膜厚度测量仪器，其特征在于：所述阳极接口连接惰性金属，所述惰性金属插入电解槽，惰性金属的下端浸入所述电解液中，所述阴极接口用于连接试样。

5.根据权利要求4所述的铜氧化膜厚度测量仪器，其特征在于：在所述阴极接口安装夹具。

6.根据权利要求4或5所述的铜氧化膜厚度测量仪器，其特征在于：所述电解槽的顶部设置试样固定筒，所述固定筒上开设长条形槽口和圆形槽口，所述固定筒的轴线方向与所述惰性金属的长度方向平行。

7.根据权利要求6所述的铜氧化膜厚度测量仪器，其特征在于：所述电解槽的一个或多个侧面为透明或半透明，所述透明或半透明侧面设置刻度。

8.根据权利要求7所述的铜氧化膜厚度测量仪器，其特征在于：所述电解液的高度不小于101.6毫米。

9.根据权利要求7或8所述的铜氧化膜厚度测量仪器，其特征在于：所述惰性金属为铂丝。