[实用新型]一种苹果数据线的测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种苹果数据线的测试仪，具体是一种用于手机数据线生产的苹果数据线的测试仪。

背景技术

现有的苹果LIGHTNING插头或者数据线在生产过程中测试慢及准确率不高。

实用新型内容

本实用新型要解决的问题在于提供一种用于手机数据线生产的苹果数据线的测试仪，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种苹果数据线的测试仪，包括接口USB1、电阻R9、芯片IC1、喇叭BZ1和二极管D2，所述接口USB1的脚1连接电容C23、电阻R9、电阻R36和MOS管Q2的漏极，电容C23的另一端接地，接口USB1的脚5连接电阻R41、电阻R32和电阻R75，电阻R75的另一端连接二极管2的阳极和LED2的阳极，电阻R32的另一端连接喇叭BZ1，喇叭BZ1的另一端连接三极管Q1的集电极，三极管Q1的发射极接地，三极管Q1的基极连接电阻R31，电阻R31的另一端连接芯片IC1的脚16，二极管D2的阴极连接芯片IC1的脚12，LED2的阴极连接芯片IC1的脚15，芯片IC1的脚14连接电阻R1，芯片IC1的脚13连接电阻R2，芯片IC1的脚10连接电阻R3，芯片IC1的脚9连接电阻R4，电阻R1的另一端连接LEDA1的阴极和LEDB1的阴极，电阻R2的另一端连接LEDA2的阴极和LEDB2的阴极，电阻R3的另一端连接LEDA3的阴极和LEDB3的阴极，芯片IC1的脚30连接电阻R65，电阻R65的另一端连接电阻R38和三极管Q3的基极，电阻R38的另一端连接电阻R39、三极管Q3的发射极和三极管Q4的发射极，三极管Q4的基极连接电阻R39的另一端和电阻R64，电阻R64的另一端连接芯片IC1的脚31，芯片IC1的脚1连接电阻R45，电阻R45的另一端连接芯片IC2的引脚1，芯片IC2的脚32连接按键SW3和电阻R44，电阻R44的另一端连接电阻R22和电阻R24，按键SW3的另一端接地。

作为本实用新型的优选方案：所述芯片IC1和芯片IC2的型号均为SN8F27E65。

作为本实用新型的优选方案：所述接口USB1连接苹果lightning数据线的USB端。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型苹果数据线的测试仪解决了现有的苹果LIGHTNING插头或者数据线在生产过程中测试慢及准确率不高的问题。

附图说明

图1为苹果数据线的测试仪的电路图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，一种苹果数据线的测试仪，包括接口USB1、电阻R9、芯片IC1、喇叭BZ1和二极管D2，所述接口USB1的脚1连接电容C23、电阻R9、电阻R36和MOS管Q2的漏极，电容C23的另一端接地，接口USB1的脚5连接电阻R41、电阻R32和电阻R75，电阻R75的另一端连接二极管2的阳极和LED2的阳极，电阻R32的另一端连接喇叭BZ1，喇叭BZ1的另一端连接三极管Q1的集电极，三极管Q1的发射极接地，三极管Q1的基极连接电阻R31，电阻R31的另一端连接芯片IC1的脚16，二极管D2的阴极连接芯片IC1的脚12，LED2的阴极连接芯片IC1的脚15，芯片IC1的脚14连接电阻R1，芯片IC1的脚13连接电阻R2，芯片IC1的脚10连接电阻R3，芯片IC1的脚9连接电阻R4，电阻R1的另一端连接LEDA1的阴极和LEDB1的阴极，电阻R2的另一端连接LEDA2的阴极和LEDB2的阴极，电阻R3的另一端连接LEDA3的阴极和LEDB3的阴极，芯片IC1的脚30连接电阻R65，电阻R65的另一端连接电阻R38和三极管Q3的基极，电阻R38的另一端连接电阻R39、三极管Q3的发射极和三极管Q4的发射极，三极管Q4的基极连接电阻R39的另一端和电阻R64，电阻R64的另一端连接芯片IC1的脚31，芯片IC1的脚1连接电阻R45，电阻R45的另一端连接芯片IC2的引脚1，芯片IC2的脚32连接按键SW3和电阻R44，电阻R44的另一端连接电阻R22和电阻R24，按键SW3的另一端接地。

芯片IC1和芯片IC2的型号均为SN8F27E65。接口USB1连接苹果lightning数据线的USB端。