[实用新型]一种测厚仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种物理测量技术领域，特别是涉及一种测厚仪。

背景技术

测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。

涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。导致涂镀测厚仪示值显示不稳定的原因主要是来自工件本身的材料和结构的特殊性，比如工件本身是否为导磁性材料，如果是导磁性材料我们就要选择磁性涂镀层测厚仪，如果工件为导电体，我们就得选择涡流涂镀层测厚仪，还有工件的表面粗糙度和附着物也是引起仪器示值显示不温度的原因，工件表面粗糙度过大、表面附着物太多。排除故障的要点就是要将粗糙度比较大的工件打磨平整，出去附着物即可，再有就是选择适合的涂镀层测厚仪。

目前现有的测厚仪携带不方便，测量步骤较多，使用不方便，不适合初学者使用，同时测量时容易出现损伤。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是一种能够实现快速、无损伤的测量非磁性金属上非导电覆盖层上的厚度，测量精度高，操作方便的测厚仪。

为解决上述问题，本实用新型采用如下技术方案：

一种测厚仪，包括主机、液晶显示屏、测量头和微处理器，所述液晶显示屏设在主机表面，所述液晶显示屏与主机扣合连接，液晶显示屏方便观察测量数据，所述微处理器设在主机底部，所述微处理器上设置有纽扣电池，微处理器能够处理测量数据显示在液晶显示屏上，所述微处理器一侧设置有振荡器，振荡器能够产生高频交流信号，所述纽扣电池、微处理器和振荡器依次电性连接，所述测量头上设置有电缆，所述测量头通过电缆与振荡器电性连接，所述主机底部设置有通信电缆插座，所述通信电缆插座与微处理器通过数字信号连接，所述液晶显示屏下方设置有键盘，键盘方便进行操作。

作为优选，所述测量头内设置有线圈，线圈能够将高频交流信号在测量头靠近导体时，形成涡流。

作为优选，所述主机表面呈弧形设置，方便手握。

作为优选，所述震荡器为高频震荡器，能够产生高频交流信号。

作为优选，所述键盘与微处理器电性连接，方便键盘操控。

该技术方案具有能够实现快速、无损伤的测量非磁性金属上非导电覆盖层上的厚度，测量精度高，操作方便的特点。

本实用新型的有益效果是：设置的液晶显示屏方便观察测量数据，微处理器能够处理测量数据显示在液晶显示屏上，振荡器能够产生高频交流信号，线圈能够将高频交流信号在测量头靠近导体时，形成涡流，主机表面呈弧形设置，方便手握。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的一种测厚仪的结构图。

具体实施方式

参阅图1所示，一种测厚仪，包括主机1、液晶显示屏2、测量头3和微处理器4，所述液晶显示屏2设在主机1表面，所述液晶显示屏2与主机1扣合连接，所述微处理器4设在主机1底部，在使用时，通过键盘9产生信号通过微处理器4控制振荡器6产生高频交流信号在被测物表面形成涡流，涡流愈大，反射阻抗也愈大，产生的反升阻通过电缆7传回无处理器4处理后将数据传送到液晶显示屏2上或者通过通信电缆插座8传给数字设备，所述微处理器4上设置有纽扣电池5，所述微处理器4一侧设置有振荡器6，所述纽扣电池5、微处理器4和振荡器6依次电性连接，所述测量头3上设置有电缆7，所述测量头3通过电缆7与振荡器6电性连接，所述主机1底部设置有通信电缆插座8，所述通信电缆插座8与微处理器4通过数字信号连接，所述液晶显示屏2下方设置有键盘9。

所述测量头3内设置有线圈10，在使用时，线圈10能够将高频交流信号在测量头3靠近导体时，形成涡流。