[实用新型]一种电子设备及测试探头

说明书

技术领域

本实用新型涉及智能终端设计及测试领域，尤其涉及一种电子设备及测试探头。

背景技术

为了满足生产测试要求，在智能终端的主板上增加了射频测试头，如图1所示，在射频电路101上设置有用于射频测试的测试接口102，以及用于与天线电缆104连接的连接接口103。其中，该测试接口102仅在产线生产射频测试时用于与测试探头105连接，出厂之后便不再被使用，使用效率很低，因此，测试接口102的布置，不仅因使用效率低而浪费成本，而且还在一定程度上影响着电子设备的设计空间。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种电子设备及测试探头，解决了现有技术中的测试接口浪费成本，影响设计布局的问题。

依据本实用新型的一个方面，提供了一种电子设备，包括：射频电路、天线电缆以及射频天线；其中，射频电路包括：第一接口；天线电缆包括：第二接口和第三接口；

其中，射频测试时，第一接口与测试探头可拆卸连接，测试探头通过第一接口与射频电路形成第一电路；

正常工作时，第一接口与天线电缆的第二接口连接，天线电缆的第三接口与射频天线连接，射频电路通过天线电缆与射频天线形成第二电路。

依据本实用新型的另一个方面，还提供了一种测试探头，应用于测试如上所述的电子设备，其中，该测试探头包括：

活动探针；

第一壳体，活动探针的一端固定于第一壳体上；

弹性部件，弹性部件的一端与第一壳体连接；以及

第二壳体，弹性部件的另一端与第二壳体连接，活动探针依次穿过弹性部件和第二壳体设置；

其中，射频测试时，在第一壳体被按压时，弹性部件收缩，活动探针另一端的至少部分露出于第二壳体，活动探针的另一端通过第一接口与电子设备的射频电路电连接。

本实用新型的实施例的有益效果是：

本实用新型的电子设备及测试探头，该电子设备在射频电路上仅预留第一接口，该第一接口在产线生产时用作测试接口，测试完成后作用射频同轴线的连接接口；这样可在射频电路设计时减少测频测试头的布置，在优化设计空间的同时，降低了制造成本。

附图说明

图1表示现有技术中电子设备的电路设计示意图；

图2表示本实用新型的电子设备的电路设计示意图；

图3表示本实用新型的测试探针的结构示意图。

其中图中：

101、射频电路，102、测试接口，103、连接接口，104、天线电缆，105、测试探头；

1、射频电路，2、天线电缆，3、射频天线，4、测试探头；

11、第一接口，21、第二接口，22、第三接口；

41、活动探针，42、第一壳体，43、弹性部件，44、第二壳体。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本实用新型的示例性实施例。虽然附图中显示了本实用新型的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本实用新型而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本实用新型，并且能够将本实用新型的范围完整的传达给本领域的技术人员。

在本实用新型的描述中，术语“上方”、“下方”等指示的方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型，而不是要求本实用新型必须以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

如图2所示，本实用新型的实施例提供了一种电子设备，具体包括：射频电路1、天线电缆2和射频天线3；其中，该射频电路1上设置有第一接口11，天线电缆2上设置有第二接口21和第三接口22。其中，在电子设备产线生产时，需要对该电子设备进行射频测试，通过射频电路1的第一接口11与测试探头4可拆卸连接，测试探头4通过第一接口11与射频电路1形成第一电路。这时，第一接口11的作用是测试接口的作用，主要用于与测试电路连接，实现对电子设备的射频测试。当测试通过后，测试探头4与第一接口11断开连接，第一接口11与天线电缆2的第二接口21连接，其中，天线电缆2的第三接口22与射频天线3连接，进而射频电路1通过天线电缆2与射频天线3形成第二电路，这是，第一接口11的作用是连接接口的作用，主要用于与后端射频天线3连接。

该电子设备在射频电路上仅预留第一接口，该第一接口在产线生产时用作测试接口，测试完成后作用射频同轴线的连接接口；这样可在射频电路设计时减少测频测试头的布置，在优化设计空间的同时，降低了制造成本。