[实用新型]一种新型引线框架

说明书

技术领域

本实用新型涉及半导体电子元器件制造技术领域，尤其涉及一种新型引线框架。

背景技术

引线框架作为集成电路的芯片载体，是一种借助于键合材料（金丝、铝丝、铜丝）实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料。目前，半导体电子元器件通常由芯片、塑封体件、金丝或者铝丝、引线框架组装而成，为了提高自动化生产效率，引线框架一般由多个相同的铜基单元排列而成，而每个铜基单元包括依次连接成一体的散热片、载片、内引线和外引线，载片用于承载电子元器件的芯片，芯片通过塑封体包封后封装在载片上。这类产品封装后塑封体与载片间结构不牢固，易于分离或脱落，尤其是发生振动或使用时间较长时，塑封体与载片更易发生脱落，降低了电子元器件的使用寿命。

另有中国专利号为201310435822.8，公布日为2013.12.25公开了公开了一种封装引线框架，由若干个铜基单元连续排列而成，每个铜基单元包括依次连接成一体的散热片、载片、内引线和外引线；其特征在于：散热片和载片连接处设置有一燕尾槽，燕尾槽设置在铜基单元的正面上；载片正面上设置有U形槽；内引线上设置有V型槽，V型槽设置在内引线的正面上；载片底面的四周边缘处设置有固胶凹槽。上述专利封装引线框架通过在散热片与载片间的燕尾槽和载片底面四周凹槽进行固胶，在一定程度上提高了电子元器件产品的塑封体与载片的结合强度，但产品的抗震性并不强，塑封体并不能与引线框架形成紧固连接。

实用新型内容

为了克服上述现有技术的缺陷，本实用新型提供了一种新型引线框架，其目的是进一步提供可靠性更高的注塑引线框架，防止塑封体件与引线框架脱落，提高电子元器件的使用寿命。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：

一种新型引线框架，包括铜基单元，所述铜基单元包括依次连接成一体的散热片、载片、内引线和外引线，所述散热片上设有定位孔，所述内引线上设有焊脚，其特征在于：所述散热片和载片连接处设有注塑孔，所述注塑孔的内壁沿圆周方向上设有环状凸肋。

所述散热片和载片连接处设有燕尾槽，所述注塑孔设置在燕尾槽上。

所述的注塑孔为长圆孔。

所述的焊脚上设有锁胶孔。

所述的焊脚为两个，其中一个焊脚的宽度大于另一个焊脚的宽度。

所述载片上设置有呈“田”字形的V型凹槽。

本实用新型具有以下优点：

1、本实用新型在散热片和载片连接处设有注塑孔，所述注塑孔的内壁沿圆周方向设有环状凸肋，结合正面设置的台阶结构，塑料注入注塑孔后，环状凸肋在塑封体件内形成倒钩，即设有环状凸肋的注塑孔为环倒钩的孔，塑封体件与引线框架结合牢固，即使电子元器件发生震动，塑封体件与引线框架也不会发生分离或脱落，提高了电子元器件可靠性和延长了使用寿命。

2、本实用新型的散热片和载片连接处设有燕尾槽，在燕尾槽上设置注塑孔，使塑封体与载片结合更稳定、牢固，从而进一步提高了电子元器件可靠性和延长了使用寿命。

3、本实用新型的焊脚上设有锁胶孔，载片设置有呈“田”字形的V型凹槽，锁胶孔内注入塑胶，焊脚被塑胶牢牢的拉住，防止焊脚受向外的力时，焊脚被拉出塑胶体或焊脚产生松动。

4、本实用新型的载片上设置有呈“田”字形的V型凹槽，加强焊料与框架的结合力，防止产品使用时间长后焊料与框架分离，导致芯片无法散热，提高产品可靠性与寿命。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为图1的A-A向视图；

图3为本实用新型的实施例2的结构示意图；

图4为图3的B-B向视图。

图中标记：1、散热片，2、载片，3、定位孔，4、内引线，5、外引线，6、焊脚，7、注塑孔，8、锁胶孔，9、燕尾槽，10、“田”字形的V型凹槽，11、环状凸肋，12、塑封体，13、芯片。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的说明：

实施例1