[实用新型]一种纳米金标试纸检测系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测领域，尤其涉及一种纳米金标试纸检测系统。

背景技术

目前，试纸检测主要依靠目测判决，即由人眼直接观测测试结果，通过与标准比色卡对比，定性的得出检测结果。这种检测方法使检测的结果准确性较差、可靠性较低。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种纳米金标试纸检测系统。

本实用新型所采取的技术方案：

一种纳米金标试纸检测系统包括CCD传感器，信号调理器，A/D转换模块，电平转换模块，CPLD，ARM处理器，以太网通讯模块，FIFO缓存模块，显示模块。所述CCD传感器的输出端连接信号调理器，所述信号调理器的输出端连接A/D转换模块，所述A/D转换模块的输出端连接电平转换模块，所述电平转换模块的输出端连接CPLD，所述CPLD与ARM处理器双向连接，所述ARM处理器与以太网通讯模块双向连接，所述FIFO缓存模块与CPLD双向连接，所述ARM处理器的输出端连接显示模块，所述CPLD的输出端分别连接CCD传感器和A/D转换模块。

本实用新型的有益效果：本实用新型采用一种纳米金标试纸检测系统，通过采用光电检测原理，使检测结果得到了定量测量，测试结果更加准确、可靠。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

以下将结合本实用新型的实施例参照附图进行详细叙述。

具体实施方式

实施例1一种纳米金标试纸检测系统。

如图1所示，一种纳米金标试纸检测系统包括CCD传感器，信号调理器，A/D转换模块，电平转换模块，CPLD，ARM处理器，以太网通讯模块，FIFO缓存模块，显示模块。所述CCD传感器的输出端连接信号调理器，所述信号调理器的输出端连接A/D转换模块，所述A/D转换模块的输出端连接电平转换模块，所述电平转换模块的输出端连接CPLD，所述CPLD与ARM处理器双向连接，所述ARM处理器与以太网通讯模块双向连接，所述FIFO缓存模块与CPLD双向连接，所述ARM处理器的输出端连接显示模块，所述CPLD的输出端分别连接CCD传感器和A/D转换模块。

使用时，由CCD传感器采集试纸反射的光强度信号，并将该信号转化为模拟电信号，模拟电信号经过信号调理器处理后得到稳定的模拟电信号，并保证模拟电信号符合A/D转换的要求，模拟电信号经A/D转换模块后转化为数字电信号，数字电信号经电平转换模块后，信号电压达到了CPLD的输入要求，CPLD的输出信号经ARM处理器处理后，部分发送至显示模块进行显示，部分与以太网通讯模块进行通信，进一步把测量结果和采集的数据传送到计算机。由于CPLD的接收和处理速度有限，特设置FIFO缓存模块来作为临时数据存储单元。