[实用新型]基于应力调控电镀和衬底转移的氮化物LED芯片有效
申请号: | 201520620703.4 | 申请日: | 2015-08-15 |
公开(公告)号: | CN204946922U | 公开(公告)日: | 2016-01-06 |
发明(设计)人: | 胡晓龙;王洪;蔡镇准;齐赵毅 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | H01L33/02 | 分类号: | H01L33/02;H01L33/32 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 何淑珍 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 应力 调控 电镀 衬底 转移 氮化物 led 芯片 | ||
1.基于应力调控电镀和衬底转移的氮化物LED芯片,其特征在于从下到上依次包括金属基板、电镀种子层、反射电极层、侧壁保护层、具有倒梯形结构的GaN外延层,和n型电极层。
2.根据权利要求1所述的基于应力调控电镀和衬底转移的氮化物LED芯片,其特征在于所述金属基板为金属镍,厚度为80μm。
3.根据权利要求1所述的基于应力调控电镀和衬底转移的氮化物LED芯片,其特征在于所述电镀种子层结构为Ni/Au,Cr/Au,Ti/Au,Cr/Pt/Au中的一种,电镀种子层的厚度为200nm~10um。
4.根据权利要求1所述的基于应力调控电镀和衬底转移的氮化物LED芯片,其特征在于所述电镀种子层的面积等于金属基板的面积;反射电极的面积小于电镀种子层的面积。
5.根据权利要求1所述的基于应力调控电镀和衬底转移的氮化物LED芯片,其特征在于所述反射电极层为Ni/Ag或Ni/Au+Al或ITO+Ag,所述反射电极层厚度为150nm~500nm。
6.根据权利要求1所述的基于应力调控电镀和衬底转移的氮化物LED芯片,其特征在于所述GaN侧壁保护层为绝缘层SiO2或SiN,其厚度范围为800~1500nm,侧壁保护层覆盖住GaN外延层侧壁。
7.根据权利要求1所述的基于应力调控电镀和衬底转移的氮化物LED芯片,其特征在于所述GaN外延层的结构从下到上依次包括p-GaN层、有源区和n-GaN层;所述GaN外延层的厚度为2~4μm。
8.根据权利要求1所述的基于应力调控电镀和衬底转移的氮化物LED芯片,其特征在于倒梯形状的GaN外延层的侧壁倾斜角为40~70度;所述的倒梯形状的GaN外延层最表层的n-GaN层是N极性氮化镓。
9.根据权利要求1所述的基于应力调控电镀和衬底转移的氮化物LED芯片,其特征在于所述n型电极层电极厚度范围为500nm~1500nm。
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