[实用新型]具有多程序兼容性的测试主板

说明书

技术领域

本实用新型涉及LED屏显示技术领域，特别是一种具有多程序兼容性的测试主板。

背景技术

LED屏的生产线，其生产一款产品对应制作一程序测试板；当需要更换另一款产品时，则需要另制作一程序测试板，或者，更换另一程序，然后才能进行产品的测试。因此，现在的生产线，更换产品即需要更换程序测试板或是更换测试程序。

实用新型内容

为了解决上述现有的技术问题，本实用新型提供一种具有多程序兼容性的测试主板，改变拨动开关的状态组合，即调用其内存储的一测试程序，从而进行对应产品的测试，满足一测试主板对多产品的测试。

本实用新型解决上述现有的技术问题，提供一种具有多程序兼容性的测试主板，包括板体及设置于所述板体的主控IC，还包括与所述主控IC电性连接的多个拨动开关；所述拨动开关具有两个档位，分别对应高电平档位、低电平档位。

本实用新型更进一步的改进如下所述。

所述拨动开关具有电源电压触点、数字地或者模拟地触点。

所述拨动开关的执行机构连接电源电压触点，对应的所述拨动开关为高电平档位。

所述拨动开关的执行机构连接数字地或者模拟地触点，对应的所述拨动开关为低电平档位。

所述拨动开关的数量大于3。

相较于现有技术，本实用新型的有益效果是：改变拨动开关的状态组合，即调用其内存储的一测试程序，从而进行对应产品的测试，满足一测试主板对多产品的测试。

附图说明

图1为本实用新型具有多程序兼容性的测试主板的结构示意图。

板体11主控IC12拨动开关13

具体实施方式

下面结合附图说明及具体实施方式对本实用新型进一步说明。

如图1所示，一种具有多程序兼容性的测试主板，包括板体11、设置于板体11的主控IC12、与主控IC12电性连接的多个拨动开关13；拨动开关13具有两个档位，分别对应高电平档位、低电平档位。改变拨动开关13的状态组合，即调用其内存储的一测试程序，从而进行对应产品的测试，满足一测试主板对多产品的测试。

本实用新型拨动开关13具有电源电压触点、数字地或者模拟地触点。拨动开关13的执行机构连接电源电压触点，对应的拨动开关13为高电平档位。拨动开关13的执行机构连接数字地或者模拟地触点，对应的拨动开关13为低电平档位。

本实用新型拨动开关13的数量大于3。假设，其拨动开关13的数量为4，分别为1、2、3、4，当拨动开关131、2、3、4全部为低电平档位时，控制IC判断状态组合为0000；当拨动开关131为高电平档位，2、3、4为低电平档位时，控制IC判断状态组合为0001；同理，当拨动开关131、2、3、4全部为高电平档位时，控制IC判断状态组合为1111。主控IC12接收到对应的状态组合，能够通过IF语句对比判定区分所需要的程序，以调出对应的测试程序，从而达到兼容的效果。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。