[实用新型]IC卡模块显微镜测量用压板

说明书

技术领域

本实用新型涉及IC卡生产领域，具体涉及一种IC卡模块显微镜测量用压板。

背景技术

IC卡是一种集成电路卡片。在IC卡模块的检验过程中，需要电子测量显微镜对载带上的芯片、金线等进行高度等项目的测量，测量时需保证载带处于水平无翘曲状态放置。通常操作员通过两块压板压紧载带两侧来实现，当需调整测量角度时需对待测样品和压板多次重复手动调节，增加了检验员的工作量，工作效率不高，而且在调整压板时容易碰到金线使之变形，导致需多次重复样品提供。当压板位置偏移时可能存在载带翘曲，致测试数据不准。

实用新型内容

为解决现有技术的IC卡测量装置工作效率低，测试数据不准的技术问题，本实用新型提供一种工作效率高，测试数据准确的IC卡模块显微镜测量用压板。

一种IC卡模块显微镜测量用压板，包括底座、控制箱、样品存放槽和上压板，所述底座、所述控制箱和所述上压板依次连接，所述样品存放槽贯穿所述控制箱，并与所述上压板抵接。

在本实用新型提供的IC卡模块显微镜测量用压板的一种较佳实施例中，所述底座包括底座本体和卡扣，所述卡扣设于所述底座本体一侧。

在本实用新型提供的IC卡模块显微镜测量用压板的一种较佳实施例中，所述控制箱包括控制箱本体和控制旋钮，所述控制旋钮设于所述控制箱本体一侧。

在本实用新型提供的IC卡模块显微镜测量用压板的一种较佳实施例中，所述样品存放槽为“U”型样品存放槽。

在本实用新型提供的IC卡模块显微镜测量用压板的一种较佳实施例中，所述上压板包括上压板本体和视窗，所述视窗设于所述上压板本体中部。

在本实用新型提供的IC卡模块显微镜测量用压板的一种较佳实施例中，所述上压板还包括调整销，所述控制箱本体通过所述调整销与所述上压板本体连接。

相较于现有技术，本实用新型提供的所述IC卡模块显微镜测量用压板具有以下有益效果：

一、利用所述IC卡模块显微镜测量用压板测量载带时，直接将待测量的载带插入所述样品存放槽，测量载带的操作更简便，减少了检验员的工作量，提高了工作效率。

二、所述IC卡模块显微镜测量用压板利用所述控制旋钮调整所述上压板，无需直接接触载带，避免了多次重复提供样品。

三、所述IC卡模块显微镜测量用压板利用所述上压板压紧载带，压紧时更为稳固，测量数据更准确。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：

图1是本实用新型提供的IC卡模块显微镜测量用压板的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。

请参阅图1，是本实用新型提供的IC卡模块显微镜测量用压板的结构示意图。

所述IC卡模块显微镜测量用压板1包括底座11、控制箱12、样品存放槽13和上压板14。

所述底座11包括底座本体111和卡扣112。所述卡扣112设于所述底座本体111一侧。所述控制箱12包括控制箱本体121和控制旋钮122。所述控制旋钮122设于所述控制箱本体121一侧。

所述上压板14包括上压板本体141、视窗142和调整销143。所述底座本体111、所述控制箱本体121、所述调整销143和所述上压板本体141依次连接。所述视窗142设于所述上压板本体141中部。所述样品存放槽13设于所述控制箱本体121顶部，且贯穿所述控制箱本体121，并与所述上压板本体141抵接。

具体实施时，移动所述卡扣112，使所述卡扣112卡紧于桌面，使所述IC卡模块显微镜测量用压板1也卡紧于桌面。随后旋转所述控制旋钮122，调整所述调整销143的高度，使所述上压板本体141与所述样品存放槽13之间的距离增加。将待测量的载带插入所述样品存放槽13，再次旋转所述控制旋钮122，使所述上压板本体141压紧待测量的载带，确保载带处于水平、无翘曲变形的状态。

载带固定完毕后，使用电子测量显微镜透过所述视窗142对载带上的芯片、金线等进行高度等项目的测量。