[实用新型]一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及微波器件测试工具技术领域。

背景技术

随着微波通信技术的发展，小型化平面微带结构电路越来越多。这种微带结构的端口产品，除了微型的可以通过探针来测试外，其它像微带输入输出结构陶瓷绝缘子及类似的无源器件如滤波器等体积相对较大的产品测试无法采用探针批量测试，技术工程师开发了许多测试的方法，还是不能快速、无痕的测试其微波参数。如通过键丝连接端口与测试板或焊接连通来进行测试，但这样破坏了产品的外观完整性，影响后续的使用。微带结构端口较难测试的主要原因是微带线由平面传输线和地面组成，传输线测试时必须有地面形成传输回路，其微带传输结构才完整，同时还要保证微带端口与SMA针头接触良好，信号通过测试针横向传输信号时，必须保证带SMA连接头的夹持面板与基座侧面的紧密接触，尽可能减小被测试件微带端口与夹持面板之间的距离，即减少传输信号没有回路地面的缝隙，才能真实测试出微波参数，这也是具有微带端口的微波产品测试难点所在。SMA连接头为现有技术，是一种应用广泛的小型螺纹连接的同轴连接器，它具有频带宽.性能优.高可靠.寿命长的特点。SMA连接头适用于微波设备和数字通信系统的射频回路中连接射频电缆或微带线。

所以针对以上情况，现在需要一种测试夹具，能够快速方便准确的完成测试工作。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具，该夹具能够有效保持微带端口与SMA针头的紧密接触，能够有效的形成回路地面，减少SMA针在被测产品微带端口与SMA连接头之间的单线传输距离，保证测试的准确度。

为解决上述问题，本实用新型采取的技术方案是：一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具，该测试夹具包括截面呈倒T形的基座、两个相对设置且可在竖直方向移动的夹持面板，所述夹持面板分别位于基座的竖向段的两侧，所述测试夹具还包括用于将夹持面板与基座的竖向段结合在一起的卡箍，在夹持面板上设有推顶销，在所述基座的竖向段的顶面上设有测试槽，所述测试槽为贯通竖向段两侧面的长方形槽体，在两个夹持面板的相背侧面上分别设有相对设置的SMA连接头，所述SMA连接头的SMA针头从两个夹持面板的相对侧面上露出。

优选的，所述卡箍的数量为两个且分别位于基座的竖向段的两侧，所述卡箍的截面呈U形且两个卡箍相对设置，在夹持面板上分别设有带有内螺纹的通孔，在通孔内设有带有外螺纹且与通孔相适配的用于推顶基座侧面的推顶销，所述推顶销的端部设有旋转钮。

优选的，在基座的竖向段的两侧分别设有用于阻止卡箍向下运动的定位卡檐，所述卡箍通过螺栓与基座固定连接，在所述基座的横向段设有固定孔，所述夹持面板、基座和卡箍的材质为黄铜。

采用上述技术方案所产生的有益效果在于：该夹具能够很好的对SMA针头和微带端口的接触面进行有效地调节，保证其充分的接触，最大限度的减小SMA针头在被测产品微带端口与SMA连接头之间的单线传输距离，保证测试结果的准确度，且高效方便，操作快捷，不会对微带产品带来损伤。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为图1另一角度下的结构示意图；

图3为图1中基座的结构示意图；

图4为图1中一侧夹持面板和SMA连接头的结构示意图。

其中、1、夹持面板，2、竖向段，3、横向段，4、卡箍，5、推顶销，6、测试槽，7、SMA连接头，8、SMA针头，9、旋转钮，10、定位卡檐，11、固定孔，12、通孔。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明：如图1、图2、图3和图4所示，一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具，该测试夹具包括截面呈倒T形的基座、两个相对设置且可在竖直方向移动的夹持面板1，所述夹持面板1分别位于基座的竖向段2的两侧，所述测试夹具还包括用于将夹持面板1与基座的竖向段2结合在一起的卡箍4，在夹持面板1上设有推顶销5，在所述基座的竖向段2的顶面上设有测试槽6，所述测试槽6为贯通竖向段2两侧面的长方形槽体，在两个夹持面板1的相背侧面上分别设有相对设置的SMA连接头7，所述SMA连接头7的SMA针头8从两个夹持面板1的相对侧面上露出。

所述卡箍4的数量为两个且分别位于基座的竖向段2的两侧，所述卡箍4的截面呈U形且两个卡箍4相对设置，在夹持面板1上分别设有带有内螺纹的通孔12，在通孔12内设有带有外螺纹且与通孔12相适配的用于推顶基座侧面的推顶销5，所述推顶销5的端部设有旋转钮9。