[实用新型]一种防止近似对称铆钉放反的检测结构有效

专利信息
申请号: 201520565193.5 申请日: 2015-07-30
公开(公告)号: CN204817887U 公开(公告)日: 2015-12-02
发明(设计)人: 贺林;武英战;刘新泉;陈海平;谢冰清 申请(专利权)人: 金德精密配件(苏州)有限公司
主分类号: B21J15/38 分类号: B21J15/38
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 马明渡
地址: 215009 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 防止 近似 对称 铆钉 检测 结构
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及铆接领域,尤其涉及一种防止近似对称铆钉放反的检测结构。

背景技术

参见图1所示,近似对称铆钉具有一基片1,基片两侧分别设有第一钉体2及第二钉体3,第一钉体2与第二钉体3的外形极为相似,第一钉体2的高度仅仅比第二钉体3的高度低不到一毫米,且近似对称铆钉的体积小,用肉眼很难区分出第一钉体2和第二钉体3,在将近似对称铆钉放置在板材上时,往往容易放错,合格的产品中,要求第一钉体2位于板材的正面,第二钉体3位于板材的背面,装配有近似对称铆钉的板材设于电路板上;在放错状态下,第二钉体3位于板材的正面,而第一钉体2位于板材的反面,再将板材安装在电路板上时就导致电路板报废。由于第一钉体2和第二钉体3的高度差相差无几,放错后用肉眼观察,很难检查出来,于是,如何提供一种防止近似对称铆钉放反的检测结构便成为本实用新型的研究课题。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种防止近似对称铆钉放反的检测结构。

为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是:一种防止近似对称铆钉放反的检测结构,包括上模和下模,所述近似对称铆钉包括一基片,一第一钉体和一第二钉体分别设置于基片的两侧,第一钉体的高度比第二钉体的高度低,两者高度差为H;其创新在于:

所述上模上对应于待检测的近似对称铆钉设有一无触点触摸传感器,该无触点触摸传感器的工作杆朝向所述近似对称铆钉设置,无触点触摸传感器动作前工作杆的位移为PT,无触点触摸传感器的工作行程为S,工作杆的位移在(S-PT)~S的范围内触发无触点触摸传感器动作,即(S-PT)≤H≤S;

装配有所述近似对称铆钉的板材置于下模上,当上模和下模闭合时,所述工作杆与对应的近似对称铆钉接触;

所述无触点触摸传感器的输出端与一报警电路连接。

上述技术方案中的有关内容解释如下:

1、上述方案中,所述工作杆上连接有一顶料销,该顶料销设于工作杆与近似对称铆钉之间,顶料销将工作杆预压位移M,(S-PT)≤(M+H)≤S,顶料销的作用在于:当第一钉体和第二钉体的高度差H不在(S-PT)~S的范围内,不足以触发无触点触摸传感器动作,使用顶料销将工作杆预压位移M,以弥补高度差H的不足,使(M+H)进入(S-PT)~S的范围内,以触发无触点触摸传感器动作;若H已在(S-PT)~S。的范围内则不需要顶料销也可达到相同效果;另外,顶料销还有一个作用在于:有些近似对称铆钉的中心开设有通孔,当通孔的直径大于或等于工作杆的直径时,放反的近似对称铆钉无法迫使工作杆移动,则需要加设一直径大于通孔直径的工作杆,用于迫使工作杆移动。

2、上述方案中,所述“无触点触摸传感器动作前工作杆的位移为PT”的意思是当工作杆由自由位置开始位移为PT时即可触发无触点触摸传感器动作;所述“工作行程”指的是工作杆从自由位置到动作限度位置的可移动距离。

3、上述方案中,所述“无触点触摸传感器”的原理及型号参考2015版的《昭穆产品综合手册》,网址:www.shzhaomu.com,为现有技术。

本实用新型工作原理及优点:在近似对称铆钉装配正确的状态下,高度较低的第一钉体位于板材的上方,高度较高的第二钉体位于板材的下方,当上模和下模闭合时,工作杆无法进入触发无触点触摸传感器动作的范围内,报警电路不报警,则说明近似对称铆钉装配正确;在近似对称铆钉装配错误的状态下,高度较低的第一钉体位于板材的下方,高度较高的第二钉体位于板材的上方,当上模和下模闭合时,第二钉体将工作杆向上顶,使得工作杆进入触发无触点触摸传感器动作的范围内,无触点触摸传感器动作,报警电路报警。本实用新型大大提高了检测效率,提高了产品合格率,且结构简单,易于维护,适合推广。

附图说明

附图1为本实用新型实施例近似对称铆钉结构示意图;

附图2为本实用新型无触点触摸传感器工作杆各工作位置示意图;

附图3为本实用新型实施例整体示意图。

以上附图中:1、基片;2、第一钉体;3、第二钉体;4、自由位置;5、动作限度位置;6、工作杆;7、无触点触摸传感器;8、顶料销;9、板材;10、上模;11、下模。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述:

实施例:一种防止近似对称铆钉放反的检测结构

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