[实用新型]一种质心偏心测试设备上的测试机构有效

专利信息
申请号: 201520528096.9 申请日: 2015-07-21
公开(公告)号: CN204788799U 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 李俊烨;赵友;房洪蛟;戴正国;张心明;王德民;刘建河;沈军 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: G01M1/12 分类号: G01M1/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 130022 吉林省*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 质心 偏心 测试 设备 机构
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种测试机构,具体是一种质心偏心测试设备上的测试机构。

背景技术

现有的质心偏心测量设备无法在测量时实现设备坐标系和回转体坐标系的转换,测量精度低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种结构简单、使用方便的质心偏心测试设备上的测试机构,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:

一种质心偏心测试设备上的测试机构,包括直线导轨、滑块、横式标尺和L形标尺,所述直线导轨安装在安装支柱上,所述滑块安装在直线导轨的上方,所述横式标尺安装在滑块的前方,所述横式标尺的左端和右端均安装有定位块,所述L形标尺安装在滑块的上方。

作为本实用新型再进一步的方案:所述横式标尺为数显式横式标尺。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

本实用新型结构简单、使用方便,设有坐标转换机构,系统可靠,测量架每次升降可以保证轴向位置不变,可实现回转体坐标与结构特征量测试设备坐标之间的转换。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。

请参阅图1,一种质心偏心测试设备上的测试机构,包括直线导轨1、滑块2、横式标尺3和L形标尺4,所述直线导轨1安装在安装支柱6上,所述滑块2安装在直线导轨1的上方,所述横式标尺3安装在滑块2的前方,所述横式标尺3的左端和右端均安装有定位块5,所述L形标尺4安装在滑块2的上方,所述横式标尺3为数显式横式标尺,可实时获得测试数据。

所述滑块2移动带动横式标尺3移动,横式标尺3的读数将显示移动的距离,测量时L形标尺4与回转体头部相接触以实现设备坐标系和回转体坐标系的转换,在设备工装和升降机构相连的地方做了导向定位机构,即测量架有孔与测量架升降机构的支撑柱配合,这样保证每次升降的过程测量架与支撑柱的位置是重复的,测量架升降机构本身在升降过程中有导向机构,该导向机构也保证了升降过程升降支撑柱的移动是可重复的,通过设备的加工以及后期的装配,能保证每台设备在升降过程中,四个支撑柱与测量架是同时接触,三个传感器的测头与传感器也是同时接触的,这样在升降过程中,测量架是平行移动的,在落在传感器的前后基本不会发生倾斜。这样也避免了升降的不稳定会造成L形标尺4的位置关系的改变,保证了升降的平稳性以实现升降的重复。可以在设备制造完成后,在测量架上放标准样柱,反复升降测量架,然后测量横式标尺3的读数值,通过观察横式标尺3的读数是否变化可以判断测量架在升降过程中位置有没有改变。

测量架每次升降可以保证轴向位置不变,因为设备的升降机构都有导向结构使得升降平稳且定位重复,升降机构和测量架相连的地方也有导向定位的机构,使得升降机构每次顶起测量架和落下测量架都能重复定位,坐标转换机构可实现回转体坐标与结构特征量测试设备坐标之间的转换。由于要求的测试精度一般都较高,而对于长度测量本身,如果要求较高的测试精度,本身的结构就需要较厚重,所以这部分是安装在设备基座上的,需要在加工过的基准面上安装直线导轨1、并且在直线导轨1的滑块2上安装数显尺的滑块,同时该坐标转换模块具备自身调平的功能,保证与产品轴线平行。

所述质心偏心测试设备上的测试机构的坐标转换用标准体来标校,即用测标准体的质心来测量测量机构和测量架二者之间的坐标关系,测量架每次升降是保证轴向位置不变,所以升降都有导向和定位的功能部件,L形标尺4有归位功能,每个L形标尺4两端都有定位块5,将L形标尺4移动至定位块5贴齐,可以清零,由于每台设备要测量多种回转体,所以L形标尺4必须移动,加锁紧功能会给移动导轨1增加负担,而且这种锁紧重复定位精度不会太高,不如L形标尺4本身的测量精度高,因此L形标尺4未设计锁止固定机构。

所述质心偏心测试设备上的测试机构采用分离结构设计,测量机构与测量架间的尺寸是用标准体标校出来,如果测量机构与测量架结合为一体,在保证产品测量的基础上,测量架的长度在设计上需增加,而且测量机构是悬出测量架还要保证足够的强度在使用的时候不变形,直接带来的影响是测量架的重量将明显加大,为保证设备测试量程要求,在传感器的选择上需选择额定载荷更大的传感器,从而影响仪器的测试精度。而且空载时测量架的重量大于测试产品,同样也影响产品的测量精度。

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