[实用新型]一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置有效

专利信息
申请号: 201520513794.1 申请日: 2015-07-14
公开(公告)号: CN204929265U 公开(公告)日: 2015-12-30
发明(设计)人: 王志;徐波;凌云志;黄武 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: H04W24/02 分类号: H04W24/02
代理公司: 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人: 余成俊
地址: 233010 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 td lte advanced 基站 射频 一致性 测试 系统 开关 切换 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及TD-LTE基站射频一致性测试应用领域,具体是一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置。

背景技术

随着TD-LTE网络大规模的建设以及TD-LTE-Advanced技术的推进,作为布网前测试、验证关键一环,基站射频一致性测试系统起到非常关键的作用。3GPPTS36.141定义了基站入网测试的全部射频一致性测试用例,要求对基站每一格测试用例进行精确测试,这样就需要有不同功能的测试仪器对其进行测试,对于基站的研发和生产测试的过程中,如何对如此之多的测仪器进行调度、如何避免对于不同测试用例频繁而复杂的连接测试电缆及如何提高测试效率,成为越来越急需解决的问题,因此开发出一种TD-LTE/LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置对基研发、生产测试具有较高的必要性,同时对整个移动通信行业的发展具有非常重要的意义。

传统的基站射频一致性测试是通过对不同测试用例通过电缆,功分器、衰减器等手动连接相关测试仪器,这样会造成测试过程复杂、测试时间较长、测试效率较低的缺点,同时由于连接过于复杂很难保证整个测量通道的频率响应以及通道增益得到很好的校准及补偿,因此开发出一种TD-LTE/LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置已迫在眉睫。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置,以解决现有技术存在的问题。

为了达到上述目的,本实用新型所采用的技术方案为:

一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置,其特征在于:包括双刀双掷开关K2-1—K2-5、K3-1—K3-6,单刀双掷开关K2-7、K2-8、K3-7,双刀单掷开关K2-6、K2-9,单刀三掷开关K3-9;其中双刀双掷开关K2-1的一个输入端与基站天线1连接,双刀双掷开关K3-1的一个输入端与基站天线2连接,双刀双掷开关K3-2的一个输入端与基站天线3连接,双刀双掷开关K3-3的一个输入端与基站天线4连接,双刀双掷开关K3-4的一个输入端与基站天线5连接,双刀双掷开关K3-5的一个输入端与基站天线6连接,双刀双掷开关K3-6的一个输入端与基站天线7连接,双刀双掷开关K2-1另一个输入端与一个带有隔离度的合路器1的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-1另一个输入端与一个带有隔离度的合路器2的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-2另一个输入端与一个带有隔离度的合路器3的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-3另一个输入端与一个带有隔离度的合路器4的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-4另一个输入端与一个带有隔离度的合路器5的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-5另一个输入端与一个带有隔离度的合路器6的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-6另一个输入端与一个带有隔离度的合路器7的一个输入端连接,合路器7的另一个输入端与基站天线8连接,合路器7的输出端与双刀双掷开关K3-6的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-6的另一个输出端与合路器6的另一个输入端连接,合路器6的输出端与双刀双掷开关K3-5的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-5的另一个输出端与合路器5的另一个输入端连接,合路器5的输出端与双刀双掷开关K3-4的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-4的另一个输出端与合路器4的另一个输入端连接,合路器4的输出端与双刀双掷开关K3-3的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-3的另一个输出端与合路器3的另一个输入端连接,合路器3的输出端与双刀双掷开关K3-2的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-2的另一个输出端与合路器2的另一个输入端连接,合路器2的输出端与双刀双掷开关K3-1的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-1的另一个输出端与合路器1的另一个输入端连接,合路器1的输出端与双刀双掷开关K2-1的一个输出端连接,双刀双掷开关K2-1的另一个输出端与单刀三掷开关K3-9的输入端连接;

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