[实用新型]一种SEM磨样砂纸

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种SEM磨样砂纸。

背景技术

砂纸俗称砂皮，是一种供研磨用的材料，用以研磨金属、木材等表面，以使其光洁平滑。

SEM广泛应用于微型结构的观察，在观察样品时，有许多样品需要进行抛光处理。现有的磨样机在制备样品时需要用特制的砂纸进行物理抛光。

现有技术中，物理抛光的步骤如下：首先用粗糙度较大的砂纸（通常是标志200″者300″的）进行粗磨，放在显微镜下观察表面平整后，将此粗糙度的砂纸换掉；然后再用中等粗糙度的砂纸（通常标志是600″或者800″）进行打磨，经过这一步打磨之后，将样品放在显微镜下磨样大致光滑后换砂纸；最后将样品放到粗糙度较小的砂纸打磨（标志为1200″）的砂纸上打磨完成后，放在显微镜下完全抛光后，一个样品才算制备完好。

上述磨样过程中，在磨样机转速一定的情况下，边缘的位置较靠近中心位置具有更大的线速度，由于样品比较脆弱，所以在粗磨操作中，样品一般在磨样平台靠近中心的位置进行研磨，所以在粗磨操作中，砂纸边缘位置利用率非常低。而在精磨时，为了较快制备好样品，通常将样品放在边缘的位置研磨，所以在精磨操作中，砂纸的中央部位利用率非常低。

因此，针对上述物理抛光过程繁琐，耗时较长，工作效率较低，砂纸利用率低等问题，有必要开发一种新型的SEM磨样砂纸，以提高工作效率和砂纸的利用率。

发明内容

本实用新型的发明目的是提供一种SEM磨样砂纸，解决现有技术中砂纸利用率低、工作效率低的问题。

为达到上述发明目的，本实用新型采用的技术方案是：一种SEM磨样砂纸，包括原纸，所述原纸上从内到外依次设有第一研磨区、第二研磨区和第三研磨区；

所述第一研磨区为圆形，所述第二研磨区和第三研磨区均为环形，且所述三个研磨区构成同心圆结构；

所述第一研磨区的目数小于第二研磨区的目数，第二研磨区的目数小于第三研磨区的目数。

上述技术方案中，所述第一研磨区的目数为100～400，所述第二研磨区的目数为500～900，所述第三研磨区的目数为1000～1200。

优选地，所述第一研磨区的目数为300；所述第二研磨区的目数为700；所述第三研磨区的目数为1100。

优选地，各相邻研磨区之间设有过渡区。

进一步的技术方案中，所述过渡区为环形，其宽度为3～10mm。

与之相应的另一种技术方案，一种SEM磨样砂纸，包括原纸，所述原纸上从内到外依次设有第一研磨区、第二研磨区和第三研磨区；

所述第一研磨区、第二研磨区和第三研磨区均为环形，且所述三个研磨区构成同心圆结构；

所述第一研磨区的目数小于第二研磨区的目数，第二研磨区的目数小于第三研磨区的目数。

上述技术方案中，所述第一研磨区的目数为100～400，所述第二研磨区的目数为500～900，所述第三研磨区的目数为1000～1200。

优选地，所述第一研磨区的目数为300；所述第二研磨区的目数为700；所述第三研磨区的目数为1100。

优选地，各相邻研磨区之间设有过渡区。

进一步的技术方案中，所述过渡区为环形，其宽度为3～10mm。

由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

1．本实用新型设有多个研磨区，且研磨区的目数不同，研磨的时候可以选择不同研磨区进行研磨，避免了多次更换砂纸，有效地提高了砂纸的利用率，提高了工作效率，降低了材料成本；

2.本实用新型结构简单，实施方便，利于推广。

附图说明

图1是本实用新型中实施例一的结构示意图。

图2是本实用新型中实施例二的结构示意图。

其中：1、第一研磨区；2、第二研磨区；3、第三研磨区；4、过渡区。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

实施例一：

参见图1所示，一种SEM磨样砂纸，包括圆形的原纸，原纸上从内到外依次设有第一研磨区1、第二研磨区2和第三研磨区3；

第一研磨区1为圆形，第二研磨区2和第三研磨区3均为环形，且三个研磨区为同心圆结构；

第一研磨区1的目数为300；第二研磨区2的目数为700；第三研磨区3的目数为1100。

本实施例中，各相邻研磨区之间设有过渡区，过渡区4为环形，过渡区4的宽度为5mm，过渡区的设置可以使得区域分辨明显，利于研磨的准确性。