[实用新型]电离室测量体积调节装置有效

专利信息
申请号: 201520477772.4 申请日: 2015-07-03
公开(公告)号: CN204792680U 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 吴金杰;葛双;李论;姚馨博 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: H01J47/02 分类号: H01J47/02;G01T1/185
代理公司: 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 代理人: 陈霁
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 电离室 测量 体积 调节 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种辐射监测技术领域,尤其涉及一种电离室测量体积调节装置。

背景技术

电离室是利用电离辐射的电离效应测量电离辐射的探测器。为了规范X射线的计量,国际上采用自由空气电离室来实现空气比释动能来作为计量X射线的基准。

在通常情况下,电离室采用一般商品化的电离室,这是一种独立设备,内部具有电离气体,但是,直接使用一般商品化的电离室进行光强检测存在一定的问题:电离室中的电离气体的体积无法根据实验需要调节,因此不能方便的实现全部所需的实验条件。为了得到不同体积的电离气体,还需要进行电离室的更换,给实验操作带来了极大不便。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的缺陷,提供一种电离室测量体积调节装置,能够根据需要方便的对电离室中电离气体的体积进行调节,增加了实验装置的可操控性。

为实现上述目的,本实用新型提供了一种电离室测量体积调节装置,所述装置包括:

滑动导向杆,平行电离室箱体的轴向方向设置于所述电离室箱体之内;

活塞,通过所述滑动导向杆的传动结构架设在所述滑动导向杆上;通过传动结构调整所述活塞在所述电离室箱体中的位置,改变所述电离室中收集区的有效测量体积;

位移调节器,与所述滑动导向杆相连接,通过所述位移调节器调节所述滑动导向杆的传动结构,从而带动所述活塞沿所述滑动导向杆移动;

位移检测器,与所述活塞相连接,检测所述活塞的移动位置,并向用户显示所述活塞的位置信息。

优选的,所述装置还包括:

限位装置,装设于所述电离室箱体内,当所述活塞与所述限位装置相接触时,产生限位信号,以通过所述限位信号提示用户所述活塞的移动位移已经到达最大/最小允许移动位置。

进一步优选的,所述位移调节器具体为控制电机,通过所述控制电机产生的位移控制信号控制所述滑动导向杆的传动结构运动,从而带动活塞移动产生位移;

所述限位装置与所述控制电机电连接,当产生限位信号时,将所述限位信号发送给所述控制电机,使所述控制电机产生停止运动的控制信号,从而使活塞停止在已到达的最大/最小允许移动位置。

优选的,所述活塞为两个,沿所述收集区中心对称设置,通过所述位移调节器调整两个活塞对称运动;每个活塞具有两个端面,均垂直所述电离室箱体的轴向方向;

其中,第一端面的两侧与所述滑动导向杆相接,第二端面的两侧与电离室中高压极相接,形成收集区,从而通过调整所述活塞在所述电离室箱体中的位置,改变所述收集区的有效体积。

进一步优选的,所述高压极的长度不小于所述两个活塞之间能拉开的最大距离。

进一步优选的,所述活塞的两个端面的几何中心分别具有开孔,使X射线束经所述开孔进入/射出所述收集区。

进一步优选的,所述电离室还包括沿所述收集区中心轴向设置的收集极;所述收集极与所述活塞相接位置为绝缘隔离。

优选的,所述位移检测器具体为螺旋测微仪;

所述螺旋测微仪与所述传动结构相接,预先设定位移零点;所述螺旋测微仪实时显示所述活塞的位置信息。

优选的,所述位移检测器具体为光学位移检测系统;

所述光学位移检测系统安装在所述活塞上,预先设定位移零点;所述光学位移检测系统实时测量所述活塞的位置,并生成位置信息,通过所述光学位移检测系统中的显示器显示所述位置信息。

本实用新型实施例提供的电离室测量体积调节装置,能够根据需要方便的对电离室中电离气体的体积进行调节,增加了实验装置的可操控性。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的电离室测量体积调节装置的结构示意图;

图2为本实用新型实施例提供的电离室测量体积调节装置的俯视剖面图。

具体实施方式

下面通过附图和实施例,对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。

图1为本实用新型实施例提供的电离室测量体积调节装置的结构示意图。如图所示,本实用新型实施例的电离室测量体积调节装置包括:滑动导向杆1、活塞2、位移调节器(图中未示出)、位移检测器(图中未示出)和限位装置3。

滑动导向杆1,平行电离室箱体10的轴向方向设置于电离室箱体10之内;

活塞2,通过滑动导向杆1的传动结构架设在滑动导向杆1上;

具体的,能够通过传动结构调整活塞2在电离室箱体10中的位置,从而改变电离室中电离气体的收集区的有效测量体积;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520477772.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top