[实用新型]一种CPS主接触器短路测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，特别涉及一种CPS主接触器短路测试装置。

背景技术

现有技术中，由于接触桥与静触头分开瞬间产生强大的电弧使得银点损伤严重，导致开关在使用过程中主接触器部分温升过高甚至发生开关烧毁现象。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种银点不易受损、开关不易升温、提高开关使用性能的CPS主接触器短路测试装置。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下：一种CPS主接触器短路测试装置，包括测试架、短路线圈、铁芯、止位杆、导杆、接触桥和静触头，所述短路线圈置于所述测试架的上方，所述测试架的一端设置有输入电端，所述输入电端与所述短路线圈连接，所述铁芯置于所述短路线圈内，所述止位杆的置于所述短路线圈的下方，且所述铁芯向下伸出所述短路线圈并抵触所述止位杆，所述导杆可竖直移动的置于所述止位杆的一端，且所述导杆与所述止位杆联动，所述接触桥固定连接在所述导杆的下端，所述静触头置于所述导杆的一侧，所述静触头与所述短路线圈连接，且所述静触头处于所述接触桥6的上方，所述测试架靠近所述输入电端的一端设置有输出电端，所述输出电端与所述静触头连接，所述接触桥和静触头之间相接处的一面均设置有银点。

进一步，所述静触头设置有两个，两个所述静触头分别置于所述导杆的两侧，且两个所述静触头均处于所述接触桥的上方。

本实用新型的有益效果是：电流从输入电端输入，电流依次经过短路线圈和静触头，再经输出电端输出，电流在经过短路线圈过程中产生磁场，磁场控制电芯向下移动，电芯控制止位杆下压，止位杆通过导杆控制接触桥与静触头断开；实现测试过程中电流不经流银点，避免接触桥与静触头断开瞬间产生强大的电弧使得银点损伤严重，极大提高了开关使用性能。

附图说明

图1为本实用新型一种CPS主接触器短路测试装置的结构示意图；

图2为导杆螺孔、接触桥、静触头和银点的结构示意图。

附图中，各标号所代表的部件列表如下：

1、测试架，2、短路线圈，3、铁芯，4、止位杆，5、导杆，6、接触桥，7、静触头，8、输入电端，9、输出电端，10、银点。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本实用新型，并非用于限定本实用新型的范围。

如图1和图2所示，一种CPS主接触器短路测试装置，包括测试架1、短路线圈2、铁芯3、止位杆4、导杆5、接触桥6和静触头7，所述短路线圈2置于所述测试架1的上方，所述测试架1的一端设置有输入电端8，所述输入电端8与所述短路线圈2连接，所述铁芯3置于所述短路线圈2内，所述止位杆4的置于所述短路线圈2的下方，且所述铁芯3向下伸出所述短路线圈2并抵触所述止位杆4，所述导杆5可竖直移动的置于所述止位杆4的一端，且所述导杆5与所述止位杆4联动，所述接触桥6固定连接在所述导杆5的下端，所述静触头7置于所述导杆5的一侧，所述静触头7与所述短路线圈2连接，且所述静触头7处于所述接触桥6的上方，所述测试架1靠近所述输入电端8的一端设置有输出电端9，所述输出电端8与所述静触头7连接，所述接触桥6和静触头7之间相接处的一面均设置有银点10。

所述静触头7设置有两个，两个所述静触头7分别置于所述导杆5的两侧，且两个所述静触头7均处于所述接触桥6的上方。

所述接触桥6和静触头7之间相对的一面均设置有银点10。

本装置的运作原理：电流从输入电端8输入，电流依次经过短路线圈2和静触头7，再经输出电端9输出；电流在经过短路线圈2过程中产生磁场，磁场控制电芯3向下移动，电芯3控制止位杆4下压，止位杆4通过导杆5控制接触桥6与静触头7断开；实现测试过程中电流不经流银点10，避免接触桥6与静触头7断开瞬间产生强大的电弧使得银点损伤严重，极大提高了开关使用性能。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。