[实用新型]一种磁环密度测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及磁环生产技术领域，尤其是指一种磁环密度测试装置。

背景技术

电子设备辐射和泄漏的电磁波不仅严重干扰其他电子设备正常工作，导致设备功能紊乱、传输错误。因此降低电子设备的电磁干扰(EMI)已经是必须考虑的问题。磁环是电子电路中常用的抗干扰元件，对于高频噪声有很好的抑制作用，一般使用铁氧体材料（Mn－Zn）制成。磁环在不同的频率下有不同的阻抗特性，一般在低频时阻抗很小，当信号频率升高磁环表现的阻抗急剧升高。磁环生产出来以后需要测量磁环的密度是否合格，现有是采用手工进行测试，其测试数据误差较大，不能有效反应出当前测试磁环的密度，从而造成质量偏差，影响终端使用效果。

发明内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构简单、操作方便、数据精准的磁环密度测试装置。

为实现上述目的，本实用新型所提供的技术方案为：一种磁环密度测试装置，它包括有上箱、下箱、测试称，其中，上箱底部设有上箱座，并通过上箱座安装在下箱顶部；上箱内腔底部设有圆形的测试称，下箱内设有挂钩，挂钩顶部牵有拉绳，拉绳上端穿过上箱座与上箱内的测试称连接；挂钩上挂装有待测磁环，挂钩下方设有水银容器，容器内注有水银；下箱一侧设有活动门。

所述的上箱主体采用角钢组合形成骨架，骨架四周的面板采用透明塑料或玻璃制作成型。

所述的下箱主体采用角钢组合形成骨架，骨架四周的面板采用透明塑料或玻璃制作成型，骨架顶部面板采用金属制作成型，骨架底部设有测试机座。

所述的上箱座底部设有支脚，并通过支脚安装在下箱顶部。

本实用新型在采用上述方案后，待测磁环挂在测试称下方的挂钩上，挂钩下方的容器内盛放有水银，通过这种方式测试称所显示的质量处于排出水银的体积即为磁环的密度。本方案的优点在于：结构简单、操作方便、测试后的数据精确，有利于有产品品质的提高。

附图说明

图1为本实用新型的上箱结构示意图。

图2为本实用新型的下箱结构示意图。

具体实施方式

下面事结合所有附图对本实用新型作进一步说明，本实用新型的较佳实施例为：参见附图1和附图2，本实施例所述的磁环密度测试装置包括有上箱1、下箱2、测试称3，其中，上箱1主体采用角钢组合形成骨架，骨架四周的面板采用透明塑料或玻璃制作成型。上箱1底部设有上箱座4，上箱座4底部设有支脚5，并通过支脚5安装在下箱2顶部；下箱2主体采用角钢组合形成骨架，骨架四周的面板采用透明塑料或玻璃制作成型，骨架顶部面板采用金属制作成型，骨架底部设有测试机座；上箱1内腔底部设有圆形的测试称3，下箱2内设有挂钩5，挂钩5顶部牵有拉绳6，拉绳6上端穿过上箱座4与上箱1内的测试称3连接；挂钩5上挂装有待测磁环，挂钩5下方设有水银容器7，容器7内注有水银；下箱2一侧设有活动门8。待测磁环挂在测试称下方的挂钩上，挂钩下方的容器内盛放有水银，通过这种方式测试称所显示的质量处于排出水银的体积即为磁环的密度。

以上所述之实施例只为本实用新型之较佳实施例，并非以此限制本实用新型的实施范围，故凡依本实用新型之形状、原理所作的变化，均应涵盖在本实用新型的保护范围内。