[实用新型]位敏测量装置有效

专利信息
申请号: 201520400999.9 申请日: 2015-06-10
公开(公告)号: CN204854624U 公开(公告)日: 2015-12-09
发明(设计)人: 梁凯;张小波;高为民 申请(专利权)人: 深圳市速普仪器有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 吴平
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测量 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及探测技术领域,特别是涉及一种位敏测量装置。

背景技术

激光具有峰值功率强、脉宽窄等优点,随着激光器技术的不断发展,激光器在工业、医疗和科研等领域的应用越来越广泛,在其应用过程中,常常需要对激光的光束指向进行精确测量。

位敏测量装置是一种对入射到光敏面上的光点位置敏感的光电器件,其输出光点光斑的实际物理位置坐标。现有的位敏测量装置大多采用半导体敏感元件,将照射在光敏面上的光斑强度和位移量转换为电信号,以实现位置探测,结构复杂,对接收到的光斑强度和尺寸要求较高,从而对器件的性能要求较高。

实用新型内容

基于此,有必要提供一种结构简单的位敏测量装置。

一种位敏测量装置,用于探测光束的位置,用于探测光束的位置,包括成像屏组件和相机,所述相机设于所述成像屏组件的一端,所述成像屏组件远离所述相机的一端设有成像屏,所述成像屏包括成像挡板和滤光膜,所述滤光膜设于所述成像挡板靠近所述相机的一侧,所述成像挡板对可见光具有透光作用,所述滤光膜对小于所述光束所在波长的可见光有吸收作用,且所述相机与所述成像屏相对而设。

上述位敏测量装置,用于探测光束的位置,光束照射在所述成像屏上形成光斑,光斑经过滤光膜后,相机获取光斑的图像,通过图像处理及测量技术计算得到光束的实际二维物理位置。由于位敏测量装置采用相机直接获取光斑的图像,通过图像处理及测量技术计算得到光束的实际二维物理位置,从而使位敏测量装置结构简单;由于光斑经过滤光膜滤光,使得相机能够得到更加精确的光斑图像,从而提高位敏测量装置的测量精度。上述位敏测量装置结构简单、测量精度高,在工业生产中具有更加广泛的应用。

在其中一个实施例中,所述相机包括镜头,所述镜头朝向所述成像屏而设,所述镜头的光轴与所述成像屏垂直。

在其中一个实施例中,所述相机还包括滤光片,所述滤光片设于所述相机的镜头与所述成像屏组件之间,所述滤光片对所述光束具有透光作用。

在其中一个实施例中,所述位敏测量装置还包括相机基座,所述相机设于所述相机基座上。

在其中一个实施例中,所述成像屏组件包括外壳,所述外壳具有腔体,所述成像屏设于所述外壳的腔体内,所述腔体内所述相机与所述成像屏之间形成光路。

在其中一个实施例中,所述成像屏组件的尺寸可根据光束需要的测量范围进行调整。

在其中一个实施例中,所述成像挡板为对可见光具有透光作用的硬塑料板。

在其中一个实施例中,所述相机为工业相机。

在其中一个实施例中,所述滤光膜粘贴于所述成像挡板靠近所述相机的一侧。

在其中一个实施例中,所述光束为激光。

附图说明

图1为一实施方式的位敏测量装置的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型,下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳的实施例。但是,本实用新型可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

参照图1,一实施方式的位敏测量装置100,用于探测光束的位置,包括成像屏组件110及相机120,相机120设于成像屏组件110的一端,成像屏组件110远离相机120的一端设有成像屏111,成像屏111包括成像挡板1112和滤光膜1114,滤光膜1114设于成像挡板1112靠近相机120的一侧,成像挡板1112对可见光具有透光作用,滤光膜1114对小于光束所在波长的可见光有吸收作用,且相机120与成像屏111相对而设。

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