[实用新型]一种LTCC滤波器测试夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子器件测试领域，特别地，涉及一种LTCC滤波器测试夹具。

背景技术

近年来，随着电子系统高度集成化和元器件小型化的不断发展，LTCC滤波器以其体积小、性能优异、温度稳定性好等优点在电子系统中得到了广泛的应用。LTCC滤波器属于陶瓷介质滤波器，采用低温共烧陶瓷工艺加工而成，LTCC滤波器包含三个电极，两个端电极为滤波器的输入/输出端，一个中间电极为器件的接地端。LTCC滤波器尺寸普遍在毫米级别，输入/输出端电极、地电极的宽度最小不足1毫米，但其使用频段覆盖DC-9GHz，使得对LTCC滤波器测试的难度较大。当前对LTCC滤波器测试主要通过电路板焊接的方式实现，但焊接会对器件造成不必要的伤害，不符合元器件可靠性筛选与测试的要求。

针对目前LTCC滤波器测试方式对器件造成不必要的伤害，不符合元器件可靠性筛选与测试的要求的问题，目前尚未有有效的解决方案。

实用新型内容

针对现有技术中LTCC滤波器测试方式对器件造成不必要的伤害，不符合元器件可靠性筛选与测试的要求的问题，本实用新型的目的在于提出一种LTCC滤波器测试夹具，能够在不伤害器件的情况下对LTCC滤波器较精确的测试，满足元器件可靠性筛选与测试的要求。

基于上述目的，本实用新型提供的技术方案如下：

根据本实用新型的一个方面，提供了一种LTCC滤波器测试夹具。

该LTCC滤波器测试夹具包括测试板，测试板为一长方形电路板，测试板上下两表面均镀有金属层，测试板电性连接至待测LTCC滤波器并用于测试待测LTCC滤波器的器件性能；

直通校准板，直通校准板为一长方形电路板，直通校准板与测试板平行且前后相邻放置，直通校准板上下两表面均镀有与测试板上金属层等厚度的金属层，直通校准板用于校准测试板的测量值并减小测试板的测量误差；

四个同轴转微带高频转接器，四个同轴转微带高频转接器分别焊接于测试板与直通校准板的左右两端，四个同轴转微带高频转接器的一端连接至同轴电缆，另一端连接至测试板与直通校准板表面的金属镀层，四个同轴转微带高频转接器用于将同轴模式信号转化为微带线模式信号。

其中，测试板表面包括：

第一镀层，第一镀层镀覆于测试板上表面左侧的中间位置，第一镀层为一条形层，第一镀层一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器中的一个，另一端延伸到测试板的接近中间位置，第一镀层在测试过程中与LTCC滤波器的输入端电性连接；

第三镀层，第三镀层镀覆于测试板上表面右侧、与第一镀层对应的中间位置，第三镀层为一条形层，第三镀层一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器中的一个，另一端延伸到测试板的接近中间位置，第三镀层在测试过程中与LTCC滤波器的输出端电性连接；

第二镀层，第二镀层镀覆于测试板上表面的中间位置，第二镀层为一哑铃形层，第二镀层中间较薄的部分处于第一镀层与第三镀层接近中间位置的延伸端之间，第二镀层在测试过程中与LTCC滤波器的接地端电性连接；

测试板背层，测试板背层镀覆于测试板下表面并覆盖整个测试板下表面，测试板背层与第二镀层电性连接；

多个过孔，多个过孔均为垂直于测试板平面的通孔，多个过孔均位于第二镀层覆盖下的测试板上，多个过孔集中于第二镀层两端较厚的部分，多个过孔的内壁也都覆有金属镀层，测试板背层与第二镀层之间通过多个多个过孔电性连接。

其中，直通校准板表面包括：

第四镀层，第四镀层镀覆于测试板上表面的中间位置，第四镀层为一条形层，第四镀层一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器中的一个，另一端电性连接至四个同轴转微带高频转接器中的另一个，第一镀层在测试过程中与不与LTCC滤波器电性连接；

直通校准板背层，直通校准板背层镀覆于直通校准板下表面并覆盖整个直通校准板下表面。

LTCC滤波器测试夹具还包括固定板，固定板固定连接至测试板的上表面，在对LTCC滤波器进行测试时LTCC滤波器设置于固定板与测试板之间，固定板用于固定LTCC滤波器的水平位置并维持LTCC滤波器的三个电极与测试板表面的金属镀层电性连接稳定。

并且，固定板为聚四氟乙烯质地的工字型结构，固定板还包括固定槽与多个螺栓；固定槽设置于工字型结构中心，固定槽的形状大小取决于LTCC滤波器的形状大小，固定槽用于为LTCC滤波器提供空间位置；多个螺栓设置于工字型结构四角，多个螺栓将固定板螺旋固定于测试板上，维持固定板与测试板之间相对静止。