[实用新型]一种用于IC光检输送机构的料盘下压机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种输送机构，尤其料盘定位精度高，运行稳定性好，从而在提高了检测精度的用于IC光检输送机构的料盘下压机构。

背景技术

在实际生产过程中由于产品不良率以及原材料的缺陷，批量生产的IC（集成电路）也必然存在不良个体，因此测试在IC制造中不可缺少。作为测试中流程之一，IC光检分选系统具有很高的UPH（单位人时产能）需求，这就要求IC光检分选系统在整个系统的上、下工序间时间衔接紧凑，动作执行高效。但现有的IC光检分选系统中的料盘在输送过程中无法有效定位，运行过程中极易出现起伏或晃动现象，直接影响检测精度。

发明内容

本实用新型主要是提供了一种料盘定位精度高，运行稳定性好，从而在提高了检测精度的用于IC光检输送机构的料盘下压机构，解决了现有技术中存在的料盘在输送过程中无法有效定位，运行过程中极易出现起伏或晃动现象，直接影响检测精度等的技术问题。

本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：一种用于IC光检输送机构的料盘下压机构，包括平行设置的一对料盘轨道，在两个料盘轨道间横设有料盘，料盘在料盘驱动机构的带动下沿料盘轨道滑动，在所述料盘轨道上沿长度方向分别转动连接着摆动杆，在摆动杆的一端与料盘轨道间设有压力弹簧，在摆动杆的另一端转动连接着可滚动压接在料盘边沿上的下压轮。通过在料盘轨道上对称设置摆动杆，摆动杆与料盘轨道同向，且带有下压轮的一端可在压力弹簧的作用下向下转动并压接在料盘边沿上，料盘沿料盘轨道行进时，下压轮滚动压接在料盘上，从而避免了料盘上、下跳动，料盘定位精度高，提高了料盘转运过程中的稳定性，保证了检测精度，结构简单，运行安全可靠。

作为优选，所述料盘轨道上表面的外侧向上一体式延伸形成外轨凸台，摆动杆设于外轨凸台上，下压轮位于摆动杆的内侧面并水平延伸至外轨凸台内侧面对应的料盘轨道上方。通过在料盘轨道上设置外轨凸台，使料盘在两侧外轨凸台间的料盘轨道上运行，保证了料盘运行轨迹，提高了运行位置精度。

作为优选，所述摆动杆在两个料盘轨道上呈对称分布。当摆动杆在料盘的两侧呈对称分布时，料盘左右侧受力均衡，运行稳定性好。

作为优选，在所述两个料盘轨道中的一个料盘轨道上设有侧顶机构，侧顶机构包括转动连接在料盘轨道上的侧顶摆杆，在侧顶摆杆的一端转动连接着可滚动顶接在料盘侧面的侧顶轮，在侧顶摆杆的另一端与料盘轨道间设有可水平顶置侧顶轮向内侧摆动的侧顶压力弹簧。通过在一侧的料盘轨道上设置侧顶机构，即可通过侧顶轮沿水平方向单向顶压料盘，使料盘沿一侧料盘轨道呈直线运行，尽可能的减少料盘发生左、右晃动现象，提高料盘转运过程中的稳定性和定位精度。

作为更优选，在所述料盘轨道上设有下压机构定位槽，摆动杆和侧顶摆杆均位于下压机构定位槽内。通过设置下压机构定位槽，使摆动杆和侧顶摆杆均位于下压机构定位槽内时，使摆动杆和侧顶摆杆隐藏在压机构定位槽内，不仅使设备外观整洁，且又可减少外界干扰，提高其运行的可靠性。

因此，本实用新型的一种用于IC光检输送机构的料盘下压机构具有下述优点：通过摆动杆和侧顶摆杆使料盘在料盘轨道的行进过程中得到精确稳定，结构简单，运行可靠，保证了检测精度。

附图说明：

图1是本实用新型用于IC光检输送机构的料盘下压机构的结构示意图；

图2是本实用新型的局部放大图。

具体实施方式：

下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。

实施例：