[实用新型]一种位置检测结构有效
申请号: | 201520385021.X | 申请日: | 2015-06-04 |
公开(公告)号: | CN204756121U | 公开(公告)日: | 2015-11-11 |
发明(设计)人: | 倪仕灿 | 申请(专利权)人: | 上海好芯电子科技有限公司 |
主分类号: | F16K37/00 | 分类号: | F16K37/00 |
代理公司: | 北京易正达专利代理有限责任公司 11518 | 代理人: | 路远 |
地址: | 200135 上海市浦东新区张江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 位置 检测 结构 | ||
【权利要求书】:
1.一种位置检测结构,其特征在于:包括动芯驱动盘和阀体上盖板,所述动芯驱动盘上均匀设置有凸点,所述阀体上盖板上设置有定位槽,所述定位槽内置有微型检测开关。
2.如权利要求1所述的位置检测结构,其特征在于,所述凸点为上下两排。
3.如权利要求1或2所述的位置检测结构,其特征在于,所述凸点相互错开。
4.如权利要求1所述的位置检测结构,其特征在于,所述定位槽和微型检测开关为两个。
5.如权利要求1所述的位置检测结构,其特征在于,所述微型检测开关与凸点相对应。
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