[实用新型]辐照盒和辐射场剂量分布检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种辐照盒和辐射场剂量分布检测装置，尤其涉及一种利用辐照盒的辐射场剂量分布检测装置。

背景技术

现有检测辐射场剂量分布的方法，通常要使用较为贵重的测量设备，而且由于设备容易受测量环境的影响导致偏差较大，因此在采用其他测量设备的过程中对控制测量环境方面提出了很高要求。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种辐照盒和辐射场剂量分布检测装置，以实现简单和准确的得到辐射场剂量分布。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种辐照盒，辐照盒本体，所述辐照盒本体内开具有用于容置热释光探测元件的卡槽。

进一步的，所述辐照盒的材质为有机玻璃。

根进一步的，所述卡槽直接分布于辐照盒本体上。

进一步的，所述卡槽深度为0.5或0.9mm。

进一步的，所述卡槽为长方体，深度为0.5mm或0.9mm，长度和宽度均为100mm。

本实用新型还提供了一种辐射场剂量分布检测装置，所述辐射场剂量分布检测装置包括：

漏斗，容置有热释光探测元件；

辐照盒，均匀分布有卡槽；所述辐照盒位于所述漏斗下，所述漏斗将所述热释光探测元件落入所述辐照盒上；

夹持器，带动所述辐照盒振动，从而将所述辐照盒上的热释光探测元件容置入所述卡槽内；

标定器，位于所述辐照盒和夹持器之间，将所述辐照盒不同位置卡槽内的热释光探测元件标定坐标值。

进一步的，所述辐射场剂量分布检测装置还包括：

射线发生器，发出射线，所述夹持器夹持所述辐照盒垂直于所述射线，所述射线照射所述辐照盒内的热释光探测元件；

读出器，测量和记录所述辐照盒内标定有不同坐标值的热释光探测元件的相对计数值，从而得到辐射场垂直于射线束的平面内的剂量分布。

进一步的，所述辐照盒的材质为有机玻璃。

进一步的，所述卡槽深度为0.9mm，直径为4.6mm；或者卡槽深度为0.5mm，边长为5.1mm。

进一步的，所述卡槽为长方体，深度为0.5或0.9mm，长度和宽度分别为100mm。

本实用新型辐照盒和辐射场剂量分布检测装置，可以简单快速和准确的得到辐射场剂量分布，尤其是垂直于射线束的平面内的剂量分布。

附图说明

图1为本实用新型辐照盒的示意图；

图2为本实用新型辐射场剂量分布检测装置。

具体实施方式

下面通过附图和实施例，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。

图1为本实用新型辐照盒的示意图，如图所示，本实用新型的辐照盒包括：辐照盒本体20和卡槽21。

具体的，辐照盒的材质可以为有机玻璃，辐照盒本体20上开具有用于容置热释光探测元件的卡槽21。优选的，卡槽21均匀分布在辐照盒本体20上。

卡槽的形状可以有很多，可根据热释光元件的厚度灵活设置，以热释光元件便于容置为出发点，如热释光元件厚度为0.8mm，则卡槽深度为0.9mm，当时热释光元件厚度为0.4mm，则卡槽深度为0.5mm。

另外，卡槽可以为长方体，深度严格根据热释光元件厚度来设置，为0.5mm或0.9mm，长度和宽度均为100mm。

图2为本实用新型辐射场剂量分布检测装置，如图所示，本实用新型辐射场剂量分布检测装置具体包括：漏斗1、辐照盒2、夹持器3、标定器4、射线发生器5、测量器6。

漏斗1内容置有热释光探测元件；漏斗1的作用就是容置大量的热释光探测元件，在需要时漏入辐照盒内。

辐照盒2均匀分布有卡槽21；辐照盒2位于漏斗1下，漏斗1将热释光探测元件落入所述辐照盒2上。

具体的，再如图1所示，辐照盒包括辐照盒本体20和卡槽21。辐照盒的材质可以为有机玻璃，辐照盒本体20上开具有用于容置热释光探测元件的卡槽21。优选的，卡槽21均匀分布在辐照盒本体20上。卡槽的形状可以有很多，例如卡槽为圆柱形，深度为0.9mm直径为4.6mm；或者卡槽为长方体，深度为0.9mm，长度和宽度分别为5.1mm。

漏斗1会将热释光探测元件落入辐照盒2的上面。

夹持器3，带动辐照盒2振动，从而将辐照盒2上的热释光探测元件容置入卡槽21内。