[实用新型]一种测试探头及带有该测试探头的测试治具有效
申请号: | 201520320619.0 | 申请日: | 2015-05-18 |
公开(公告)号: | CN204758647U | 公开(公告)日: | 2015-11-11 |
发明(设计)人: | 柏成文 | 申请(专利权)人: | 深圳市泰斯电子有限公司 |
主分类号: | G01R1/073 | 分类号: | G01R1/073;G01R31/28;G01R31/36 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 冯筠 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 探头 带有 | ||
1.一种测试探头,其特征在于,包括有一支架及一测试针,所述测试针穿设于支架,且该测试针能够相对所述支架而往复弹性滑动,所述支架上设有用于将该支架安装于测试治具预设位置的紧固机构。
2.如权利要求1所述的测试探头,其特征在于,所述紧固机构包括有形成于支架上的螺孔及与该螺孔相配合的螺丝,所述螺丝穿过测试治具的预设位置而螺合于所述螺孔。
3.如权利要求2所述的测试探头,其特征在于,所述支架是由两个支臂及一横梁构成的倒U形支架,所述测试针依次穿过两个支臂,且该测试针能够相对两个支臂而往复弹性滑动。
4.如权利要求3所述的测试探头,其特征在于,所述测试针的前端形成有一触头,所述触头呈圆柱形。
5.如权利要求4所述的测试探头,其特征在于,所述测试针位于两个支臂之间的部分形成有一限位块,所述测试针位于两个支臂之间的部分还套设有一弹簧,所述弹簧靠近触头的一端抵接于限位块,所述弹簧远离触头的一端抵接于支臂。
6.如权利要求5所述的测试探头,其特征在于,所述测试针为锡青铜测试针,且该测试针的表面设有24K金电镀层,所述触头为S990银材质触头。
7.一种测试治具,其特征在于,包括有至少两个如权利要求2至6任一项所述的测试探头以及一用于驱动所述测试探头沿测试针的轴向往复移动的驱动机构。
8.如权利要求7所述的测试治具,其特征在于,所述驱动机构包括有气缸及设于气缸驱动端的滑块,所述滑块上开设有条形孔,所述螺丝穿过条形孔而对应螺合于支架的螺孔内。
9.如权利要求7所述的测试治具,其特征在于,所述测试探头的数量是三个,靠近边缘的两个测试针的前端相对弯折而分别形成有弯折部,靠近边缘的两个触头分设于两个弯折部上,三个触头并行设置且相邻两个触头之间形成有预设距离。
10.如权利要求7所述的测试治具,其特征在于,所述测试探头的数量是四个,靠近边缘的两个测试针的前端相对弯折而分别形成有弯折部,靠近边缘的两个触头分设于两个弯折部上,四个触头并行设置且相邻两个触头之间形成有预设距离。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市泰斯电子有限公司,未经深圳市泰斯电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520320619.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电表插接组件
- 下一篇:一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具