[实用新型]一种测试探针装置

说明书

技术领域

本实用新型属于飞针测试机领域，特别涉及一种应用于飞针测试机上的测试探针装置。

背景技术

飞针测试机是针对元件布置高密度、层数多、布线密度大、测点距离小的PCB板（印刷电路板）进行测试的一种仪器，主要测试线路板的绝缘和导通值。测试仪一般采用“真值比较定位法”，能对测试过程和故障点进行实时监控，保证测试的准确性。飞针测试机具有精细节距，不受网格限制，测试灵活，速度快等特点。

应用于飞针测试机上的测试探针装置通常安装在测试手臂上，测试手臂安装在机座的Y轴的滑块上，可以Y方向上作上下运动，Y轴安装在X轴上可以作X方向的左右运动，而探针安装在Z轴导轨上，探针可以在Z轴方向上作前后运动，飞针测试机就是通过上位机的测试软件控制X、Y、Z轴运动，进而控制探针扎到PCB的各个测试点，完成对PCB板的检测。现有的测试探针装置如图1所示，其包括针座主体a、位于针座主体a前端的探针组件b，位于针座主体a后端的信号线固定组件c，以及位于针座主体a上端的感应器组件d；其中，测试信号线e通过导线固定螺丝g及铜片f固定在底座上，探针组件b中的探针与铜片f通过焊接在探针上的测试信号线e1连接；更换探针时，首先先将导线固定螺丝g拆下，松开铜片f，再将感应器组件拆下，然后再将探针组件固定螺丝，才能取下探针组件，可见，上述测试探针装置更换探针非常不方便，同时，该测试探针装置中，测试数据线在探针组件处横向分布，其与待测PCB板平行而容易产生电容，对测试数据产生干扰。

实用新型内容

为此，本实用新型所要解决的技术问题在于现有的测试探针装置更换探针不方便且对测试数据有干扰的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型的测试探针装置，其包括，针座主体，位于针座主体前端的探针组件，位于针座主体上端的感应器组件，以及位于针座主体后端的信号线固定组件，所述探针组件包括可拆卸连接于所述针座主体上的弹性支架以及固定连接于所述弹性支架上的探针，所述探针固定连接有第一测试线，所述第一测试线的另一端固定连接有第一导电片，所述第一导电片可拆卸连接于所述针座本体上，并与所述信号线固定组件上的信号线电连接。

上述测试探针装置中，所述信号线固定组件包括位于所述针座本体后端的固定座，以及固定所述信号线的第三导电片，所述第三导电片可拆卸地连接于所述固定座上。

上述测试探针装置中，所述第一导电片与所述第三导电片之间通过第二测试线连接。

上述测试探针装置中，所述针座本体上可拆卸连接有第二导电片，所述第二测试线固定连接于所述第二导电片上，所述第一导电片通过所述第二导电片可拆卸连接于所述针座本体上。

上述测试探针装置中，所述第二导电片螺纹连接于所述针座本体上，所述第一导电片贴合连接于所述第二导电片的外表面，并通过穿设于第一导电片及所述第二导电片上的螺钉连接于所述针座本体上。

上述测试探针装置中，所述第一导电片及所述第二导电片位于接近所述探针一侧的针座本体的侧面上。

上述测试探针装置中，所述弹性支架与所述针座本体的配合面上设有定位结构。

上述测试探针装置中，所述定位结构为分别设置于所述弹性支架与所述针座本体上的定位凸起/定位凹槽。

上述测试探针装置中，所述第一测试线的两端分别焊接连接于所述探针及所述第一导电片上，所述第二测试线的两端分别焊接连接于所述第二导电片与第三导电片上。

上述测试探针装置中，所述感应器组件包括可拆卸连接于所述针座本体上的感应器安装座以及可拆卸连接于所述感应器安装座上的压力感应器。

本实用新型的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：

（1）本实用新型的测试探针装置中，探针固定连接有第一测试线，所述第一测试线的另一端固定连接有第一导电片，所述第一导电片可拆卸连接于所述针座本体上，并与所述信号线固定组件上的信号线电连接。更换上述测试探针装置的探针组件时，只需要将第一导电片及弹性支架从针座本体上拆卸下来即可将探针组件拆下，相比现有技术需要将信号线固定组件拆卸才能将探针组件可靠拆下的方式，该测试探针装置更换探针更为简单、方便。

（2）进一步的，本实用新型的第一导电片位于接近探针一侧的针座本体的侧面上，这样，第一测试线可以从在探针的末端直接从前后方向延伸连接于第一导电片上，使探针组件前端横向设置的第一测试线尽量少，消除电容干扰，使测试数据更加准确。