[实用新型]用于阵列探测器通道一致性测试的电流发生装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电流发生装置，特别是涉及一种用于阵列探测器通道一致性测试的电流发生装置。

背景技术

目前，探测X射线所用阵列探测器通常包括光电二极管与闪烁体结合而成的组合件、积分器、模数转换器和控制电路。组合件通常包含多个光电二极管，每个光电二极管对应电路上的一个信号通道，组合件对X射线做出响应，产生电流信号；积分器将电流转化为电压信号；模数转换器将电压信号数字化得到成像所需数据；控制电路负责数据和指令的传递等。通常，组合件的一致性影响阵列探测器各通道的一致性，从而影响成像质量。

现有技术中，针对采集成像所需数据不一致时，通常的做法是查询组合件的一致性参数或返厂对组合件进行重新测试以确定参数，通过更换一致性好的组合件来确认阵列探测器电路是否存在问题。但组合件的一致性参数易受外界影响(如机械碰撞)，很难保证组合件的参数与出厂时相同，这样也就不能通过确认组合件的一致性参数来确定阵列探测器电路的一致性问题。通过更换一致性好的组合件，成本较高且不便捷。本实用新型直接对阵列探测器电路一致性进行测试，结构简单，使用方便，成本低廉，能够快速验证阵列探测器各通道间的一致性。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了提供一种用于阵列探测器通道一致性测试的电流发生装置，它与现有技术相比，本实用新型直接对阵列探测器电路本身进行测试，用以验证阵列探测器各通道的一致性指标。

为达到上述目的，本实用新型的用于阵列探测器通道一致性测试的电流发生装置包括电源输入接口、保护单元、稳压单元、高精度电阻以及输出接口。电源输入接口，向外与外部电源连接，向内与保护二极管连接。保护单元，包括保护二极管和限流电阻，保护二极管一端与电源输入接口连接，另一端与限流电阻连接，限流电阻一端与保护二极管连接，另一端与部分滤波储能电容连接。稳压单元，包括滤波储能电容和低压稳压芯片，低压稳压芯片输入端与部分滤波储能电容连接，输出端与部分滤波储能电容及高精度电阻连接。高精度电阻，一端与低压稳压芯片的输出端连接，另一端与输出接口连接。输出接口，包括高能和低能接口，向内与高精度电阻连接，向外与阵列探测器连接。

相较于现有技术，本实用新型所述的用于阵列探测器通道一致性测试的电流发生装置可显示出很大的优越性。保护单元可解决电源反接及浪涌等问题；稳压单元包括滤波储能电容和低压稳压芯片，保证了芯片性能；输出接口分为高能和低能两种，分别用于测试阵列探测器的高能和低能通道。本实用新型直接对阵列探测器电路一致性进行测试，结构简单，使用方便，成本低廉，能够快速验证阵列探测器各通道间的一致性。

本实用新型将通过优选的实施例结合附图加以说明。

附图说明

图1表示是本实用新型所述测试阵列探测器通道一致性的系统框图；

图2表示是本实用新型电路原理图。

具体实施方式

参照附图，将详细叙述本实用新型的具体实施方案。

图1给出了按本实用新型所述电流发生装置具体实施方案的一种系统结构。在图1中，示出了外部电源1为电流发生装置2供电，电流发生装置2与阵列探测器3连接，阵列探测器3与数据采集系统4连接。数据采集系统4可对阵列探测器3的数据进行采集，进而对阵列探测器3的一致性做出评价。

在图2中，电源输入接口J1，向外与外部电源连接，向内与保护二极管D1连接。保护单元，包括保护二极管D1和限流电阻R1，保护二极管D1一端与电源输入接口J1连接，另一端与限流电阻R1连接，限流电阻R1另一端与滤波储能电容C1、C2连接。稳压单元，包括滤波储能电容C1～C4和低压稳压芯片U1，低压稳压芯片U1一端与滤波储能电容C1、C2连接，另一端与滤波储能电容C3、C4及高精度电阻R连接。高精度电阻R，一端与低压稳压芯片U1的输出端连接，另一端与输出接口J2或J3连接。输出接口J2和J3，向内与高精度电阻R连接，向外与阵列探测器连接。

可根据需求焊接高能接口J2或低能接口J3，简单方便。

通过更换高精度电阻阻值，产生的电流范围为0～100nA，满足测试所需要求。

调整电流为10nA，以采集到的低能通道数据为例进行说明。启动一次采集，各通道都会采到1024个数据，首先计算1024个数据的平均值，然后这1024个值分别与均值作差，再除以均值，得出偏差百分比，取绝对值最大的一个偏差百分数作为该通道的不一致性。通过对现有合格阵列探测器实际测试，各通道不一致性不超过0.03％。

当然，本实用新型还可有其他实施例，在不违背本实用新型实质的前提下，相关技术人员可根据本实用新型做出相应改变或变形，但这些改变和变形都应属于本实用新型权利要求的保护范围。