[实用新型]一种孔深检具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种检具，特别是一种孔深检具。

背景技术

带有深孔的产品测量其孔深目前大多采用卡尺测量，但是遇到孔径较小且又深的时候，卡尺测量的数据就会很大可能的产生误差，得出不准确的数据，影响使用。一般采用替代法测量，即通过一根细长的金属棒伸入产品内部，然后标记孔口位置，再用长度量具测量，得出孔深，这种方法测量较为麻烦，且测量误差较大。

实用新型内容

实用新型目的：本实用新型的目的是为了解决以上现有技术的不足，提供一种快速测量的孔深检具。

技术方案：本实用新型所述的孔深检具，其目的是这样实现的，一种孔深检具，包括支架，所述支架的底面为平面，所述支架的中间设有活动的撞针块，所述撞针块的下方固定设有细长的金属棒，所述支架上撞针块的上方固定设有百分表，所述百分表的顶针正对撞针块的上表面。

作为优化，所述百分表的顶针正对撞针块的正中央，避免测量时由于金属棒略微倾斜，造成测量结果不准。

作为优化，所述金属棒的底面与侧壁的夹角为尖角，不能有倒角，倒角会导致金属棒的倾斜，造成测量结果不准确。

检测时，事先测量一定孔深的标准零件，然后记下百分表的读数，然后检测待测零件时，只需检测百分表的读数是否在允许误差范围内，测量时应多次测量取平均值。

有益效果：本实用新型所述的孔深检具，其结构上根据产品尺寸定位，通过在撞针块的上方设置百分表，撞针块的下方设置金属棒，百分表的顶针正对撞针块，测量时将金属棒伸入到孔内，通过撞针块移动接触到百分表的顶针，通过观察百分表读数观测待检测产品的相对孔深，与标准产品相比较，即可判断产品是否合格，提高了检测效率，增加了检测精准度。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

为了加深对本实用新型的理解，下面将结合实施例和附图对本实用新型作进一步详述，该实施例仅用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型保护范围的限定。

参见图1所示，一种孔深检具，包括支架1，所述支架1的底面为平面，所述支架1的中间设有活动的撞针块2，所述撞针块2的下方固定设有细长的金属棒3，所述支架1上撞针块2的上方固定设有百分表4，所述百分表4的顶针正对撞针块2的上表面的正中央位置。

所述金属棒3的底面与侧壁的夹角为尖角，不能有倒角，倒角会导致金属棒3的倾斜，造成测量结果不准确。

检测时，事先测量一定孔深的标准零件，然后记下百分表4的的读数，然后检测待测零件时，只需检测百分表4的读数是否在允许误差范围内，测量时应多次测量取平均值。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。