[实用新型]无线发射芯片简单批量测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电子测试装置，尤其是一种测试发射芯片的装置。

背景技术

在当今信息膨胀的年代，无线发射芯片被越来越多的应用到各种无线终端中。在无线发射芯片生产和封装完成后，需要进行必要的测试，以确保其合格和可靠。

现有的测试装置往往过于复杂，购置成本很高。或者功能过于简单，无法批量测试，使得测试效率低，测试准确性也不够好。

发明内容

针对现有技术中存在的不足，本实用新型提供一种无线发射芯片简单批量测试装置，具有测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好等优点，适合无线发射芯片的批量测试。本实用新型采用的技术方案是：

一种无线发射芯片简单批量测试装置，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座中；

微处理器U1上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器K1线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压；

微处理器U1通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器U1上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器K2的公共端，继电器K2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端；发射芯片U4的信号输出端连接继电器K1的常闭触点，继电器K1的公共端连接微处理器U1的第一采样端口；

继电器K3的常闭触点通过电阻R1连接第二供电电压，继电器K3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻R1和R2阻值不同；

继电器K3的公共端连接微处理器U1的第二采样端口，以及发射芯片U4的供电端。

进一步地，驱动芯片U2采用ULN2003。

本实用新型的优点在于：

1）搭建外围测试平台简单快捷。

2）测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好，适合无线发射芯片的批量测试。

3）测试中抗干扰能力强。

附图说明

图1为本实用新型的电原理图。

具体实施方式

下面结合具体附图和实施例对本实用新型作进一步说明。

本实用新型提出的无线发射芯片简单批量测试装置，整体为一块线路板，其上的电路如图1所示，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座40；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座40中；

微处理器U1上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器K1线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压（如+5v)；本例中驱动芯片U2采用ULN2003，其输入端和输出端的信号关系为反相关系。微处理器U1输出低电平时，U2的输出为高电平，则继电器K1、K2和K3线圈都不得电。

微处理器U1通过SPI/IIC通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器U1上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器K2的公共端，继电器K2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端（图中的U4的PKT管脚）；发射芯片U4的信号输出端连接继电器K1的常闭触点，继电器K1的公共端连接微处理器U1的第一采样端口（图中U1的ADC1管脚）；

继电器K3的常闭触点通过电阻R1连接第二供电电压，第二供电电压为3.3v；继电器K3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻R1和R2阻值不同，分别用于测试发射芯片U4的睡眠电流ISLEEP和工作电流IDDRX。

继电器K3的公共端连接微处理器U1的第二采样端口（图中U1的ADC2管脚），以及发射芯片U4的供电端。

测试流程：

上电后微处理器U1会立即检测SPI/IIC通信接口连接的接收芯片U3和发射芯片U4的状态。

当微处理器U1收到上位机给的START信号时，开始测试。

通过控制继电器K1、K3切换，可测试发射芯片U4的输出电压LDO_OUT，睡眠电流ISLEEP和工作电流IDDRX。