[实用新型]防止电磁干扰的平板试样空间电荷分布测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及空间电荷分布测量领域，尤其涉及一种防止电磁干扰的平板试样空间电荷分布测量装置。

背景技术

电气绝缘材料由于其分子结构的缺陷导致内部缺陷的形成。在电场的作用下，载流子沿电场方向进行运动，当这些载流子遇到所形成的缺陷，会被其进行捕获，形成了相应的空间电荷。这些空间电荷所形成的库仑场和外加电场将改变原有电场的分布，从而造成材料内电场的严重畸变，从而引发电树发展，导致绝缘的破坏。因此，空间电荷严重影响电气绝缘材料的性能，建立电气绝缘材料中的空间电荷测试系统具有重要意义。

现有测量技术中，基于电声脉冲法的空间电荷测量，其使用的系统仅能在均一温度下进行测量，存在局限性。基于压力波法的平板试样空间电荷测量，空间电荷分布信号容易受到干扰，信号衰减较大，特别是高压引线、同轴电缆容易引入外部电磁干扰，导致测量系统信噪比低，测量不准确。

实用新型内容

本实用新型提出了一种防止电磁干扰的平板试样空间电荷分布测量装置及方法，能够准确测量电气绝缘材料中的空间电荷分布，通过在高压引线中间阶段串联连接高压电阻，并通过波导管，有效防止外部电磁干扰，提高了空间电荷分布测量装置的信噪比，精度高，并能够通过相应加热装置实现了不同温度下空间电荷测量。

本实用新型技术方案如下：

一种防止电磁干扰的平板试样空间电荷分布测量装置，包括高压直流电源、高压引线、绝缘自粘带、高压电阻、第一波导管、信号屏蔽盒、限流电阻、隔直电容、同轴电缆、第二波导管、试样屏蔽盒、金属支柱、电极测量单元、放大器、数字示波器、高温干燥箱、激光器。

限流电阻、隔直电容设置在信号屏蔽盒内。

电极测量单元设置在试样屏蔽盒内，试样屏蔽盒、金属支柱设置在高温干燥箱内，试样屏蔽盒设置在金属支柱上；金属支柱能够将产生的干扰信号接地，同时，方便调节试样屏蔽盒的高度。

试样屏蔽盒、高温干燥箱的箱壁上均设置有光孔，高温干燥箱光孔外设置激光器，激光器的发射光能够通过光孔垂直照射到电极测量单元上。

高压直流电源、高压引线相连接，高压引线截断后通过高压电阻连接，高压电阻外层包裹绝缘自粘带，信号屏蔽盒的侧壁设置第一波导管，第一波导管与信号屏蔽盒相通，高压引线穿过第一波导管、信号屏蔽盒的侧壁后与限流电阻相连接。

信号屏蔽盒、试样屏蔽盒之间设置第二波导管，并通过第二波导管连通，同轴电缆穿过第二波导管，同轴电缆一端连接限流电阻、隔直电容，另一端连接电极测量单元。即高温干燥箱、试样屏蔽盒的箱体的两侧均有开孔，一侧开孔为光孔，作为激光入射通道，另一侧开孔作为电缆通道。

隔直电容、放大器、数字示波器依次顺序相连接，即隔直电容的一端连接限流电阻、同轴电缆，另一端连接放大器，放大器、数字示波器相连接。

电极测量单元包括后电极、弹簧、接触电极和前电极。

同轴电缆连接后电极，后电极、接触电极通过弹簧连接接触电极、前电极之间设置被测绝缘材料平板试样，被测绝缘材料平板试样两侧分别粘贴第一半导电电极、第二半导电电极；第一半导电电极与接触电极接触，第二半导电电极与接触电极接触。

前电极固定设置在试样屏蔽盒的光孔处，前电极的中心设置有开孔，激光器的发射光能够通过开孔垂直照射到被测绝缘材料平板试样外侧粘贴的半导电电极上。

后电极朝向弹簧的侧面设置有凹槽，接触电极朝向弹簧的侧面设置有凸面，弹簧被压缩时，凸面能够收容在凹槽内。使绝缘材料试样两侧的半导电电极与外部的接触电极、前电极紧密接触，使用弹簧装置对试样进行夹持，使用方便。

试样屏蔽盒内设置有绝缘支柱、绝缘底座；电极测量单元通过绝缘支柱设置在绝缘底座上；使得电极测量单元放置在试样屏蔽盒内；试样屏蔽盒放置在金属支柱上，以保持接地；通过绝缘支柱、绝缘底座能够很好的绝缘电极测量单元的测量电流。

较优地，第一波导管、第二波导管的材质为黄铜，厚度为3-6mm，内径20-30mm，长径比为15：1-10：1，长径比指长度和内径比例。

较优地，同轴电缆的长度小于0.5m，特征阻抗为50Ω。

较优地，隔直电容通过信号屏蔽盒上的BNC接头与放大器相连接。

BNC接头与放大器之间通过同轴电缆连接，电缆的长度小于0.5m，特征阻抗为50Ω，保证阻抗匹配。

高压直流电源的输出直流为±120kV，最大电流为2mA，纹波系数≤0.2%。

较优地，样品屏蔽盒、信号屏蔽盒均为铝合金。