[实用新型]SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构有效
| 申请号： | 201520265764.3 | 申请日： | 2015-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN204549346U | 公开（公告）日： | 2015-08-12 |
| 发明（设计）人： | 吕锡昌;廖建伟;赵乐平 | 申请（专利权）人： | 福建省将乐县长兴电子有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/22 | 分类号： | B65G47/22;G01D11/00 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人： | 曾捷 |
| 地址： | 353300 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | smd 微型 检测 圆盘 机构 | ||
1.一种SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，包括360度循环转动的圆盘检测座（1），所述圆盘检测座（1）上设置有晶振接纳座（2），所述晶振接纳座（2）上表面设置有用于接纳晶振的晶振接纳槽（3），其特征在于：所述圆盘检测座（1）上表面靠近其外侧壁位置设置有与其平行的固定环（4），且该固定环（4）与所述圆盘检测座（1）同轴设置，所述晶振接纳座（2）靠近所述圆盘检测座（1）中心位置的一侧设置有供所述固定环（4）穿过的横向通槽（5），所述晶振接纳座（2）靠近所述圆盘检测座（1）中心位置的一端设置有定位孔（6）和定位螺杆（7），所述圆盘检测座（1）与上述定位螺杆（7）相对应位置设置有与之配合的固定槽（8）。
2.根据权利要求1所述的SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，其特征在于：所述固定环（4）通过其下方均匀分布的四根立柱固定设置在所述圆盘检测座（1）上。
3. 根据权利要求1所述的SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，其特征在于：所述横向通槽（5）的末端设置有与所述固定环（4）嵌合匹配的环槽（9）。
4. 根据权利要求1所述的SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，其特征在于：所述晶振接纳座（2）由橡胶制成。
5. 根据权利要求1所述的SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，其特征在于：所述固定槽（8）为环形，且与所述固定环（4）同轴设置。
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