[实用新型]辐射污染检测系统以及检测设备和辐射粒子探测器有效
| 申请号: | 201520257948.5 | 申请日: | 2015-04-27 | 
| 公开(公告)号: | CN204807708U | 公开(公告)日: | 2015-11-25 | 
| 发明(设计)人: | 谭伟;秦来贵 | 申请(专利权)人: | 赛默飞世尔(上海)仪器有限公司 | 
| 主分类号: | G01T1/167 | 分类号: | G01T1/167 | 
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张昱;胡斌 | 
| 地址: | 201206 上海市金*** | 国省代码: | 上海;31 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 辐射 污染 检测 系统 以及 设备 粒子 探测器 | ||
1.一种辐射污染检测系统,其包括至少一个辐射粒子探测器(1),其特征在于,所述辐射粒子探测器(1)包括:
探测单元(11),其设置成用于探测辐射粒子,并将探测到的辐射粒子的动能转换成光能输出;以及
硅光电倍增管(12),其设置成用于接收所述光能并将其转换成电信号输出;
并且,所述辐射污染检测系统还包括:
至少一个偏压产生模块(2),其与所述至少一个辐射粒子探测器(1)相对应,并且与其中的所述硅光电倍增管(12)相连以向其提供偏置电压,所述偏置电压使得所述硅光电倍增管(12)在其工作温度范围内具有预设的增益;和/或
探测数据处理模块,其与所述至少一个辐射粒子探测器(1)中的所述硅光电倍增管(12)相连,用于处理由于所述硅光电倍增管(12)的自身噪声影响而在所述工作温度范围内对于所述探测到的辐射粒子计数值所产生的误差。
2.根据权利要求1所述的辐射污染检测系统,其特征在于,所述偏压产生模块(2)包括:
偏压产生电路(21),其设置成用于提供所述偏置电压;以及
正温度系数调节单元(22),其与所述偏压产生电路(21)相连,并被设置成用于在所述工作温度范围内为所述偏置电压提供补偿,以使得所述预设的增益保持为基本上恒定值。
3.根据权利要求2所述的辐射污染检测系统,其特征在于,所述正温度系数调节单元(22)中设置有负温度系数热敏电阻,并且/或者所述正温度系数调节单元(22)设置成在所述工作温度范围内为所述偏置电压提供线性的电压补偿率。
4.根据权利要求1所述的辐射污染检测系统,其特征在于,所述探测数据处理模块包括:
至少一个放大器(4)、至少一个比较器(3)和至少一个数模转换器(5),它们均与所述至少一个辐射粒子探测器(1)相对应,其中所述放大器(4)与所述硅光电倍增管(12)和所述比较器(3)相连,用以放大所述电信号并将其输出至所述比较器(3),所述数模转换器(5)与所述比较器(3)相连并被分别设置成用于向所述比较器(3)提供进行比较的阈值信号和用于对所述阈值信号和所述放大器(4)的输出信号进行比较;
温度采集单元(7),其设置成用于采集周围环境温度数据;以及
控制单元(6),其与所述比较器(3)、所述数模转换器(5)和所述温度采集单元(7)相连,并被设置成用于控制所述温度采集单元(7)采集周围环境温度数据,以便根据所述周围环境温度数据以及温度-阈值关系式来获得在不同的周围环境温度下所对应的阈值,并由所述数模转换器(5)根据所述阈值产生所述阈值信号,以便所述比较器(3)将所述阈值信号与所述放大器(4)的输出信号进行比较来确认是否探测到一个辐射粒子,然后将探测结果输送至所述控制单元(6),所述温度-阈值关系式存储于所述控制单元(6)中并与所述周围环境温度和所述阈值相关,所述阈值为从所述探测到的辐射粒子计数值中减去了由于所述硅光电倍增管(12)的自身噪声影响后所对应的辐射粒子计数值。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的辐射污染检测系统,其特征在于,所述辐射粒子探测器(1)还包括光导单元(13),所述光导单元(13)设置于所述探测单元(11)和所述硅光电倍增管(12)之间,用以将由所述探测单元(11)输出的所述光能传导至所述硅光电倍增管(12)。
6.根据权利要求1-4中任一项所述的辐射污染检测系统,其特征在于,所述探测单元(11)包括闪烁体,所述闪烁体包括塑料闪烁晶体。
7.一种表面辐射污染检测设备,其特征在于,所述表面辐射污染检测设备中设置有如权利要求1-6中任一项所述的辐射污染检测系统,所述表面辐射污染检测设备包括全身表面辐射污染检测设备。
8.一种用于辐射污染检测设备的辐射粒子探测器(1),其特征在于,所述辐射粒子探测器(1)包括:
探测单元(11),其设置成用于探测辐射粒子,并将探测到的辐射粒子的动能转换成光能输出;以及
硅光电倍增管(12),其设置成用于接收所述光能并将其转换成电信号输出。
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