[实用新型]光纤测试连接装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光纤设备领域，尤其涉及一种光纤测试连接装置。

背景技术

目前光纤通信领域中为进行光纤全程测量和光纤运行情况检测，通常使用光时域反射仪(OTDR)来测试光纤的长度、故障点、传输衰减、接头衰减等参数。为采用光时域反射仪(OTDR)连接一预置尾纤，之后通过光纤熔接的方式连接被测光纤进行检测。但是光纤熔接在使用过程中有很大的局限性，主要有以下几点：1.需配套熔接机，成本高、搬运困难；2.需熔接光纤两端，施工工艺要求精细，检测施工难度大；3.连接效率低，光纤熔接时间较长，降低了光纤全程测量和光纤运行情况检测的效率。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种使用成本低、携带方便、检测施工难度小、连接效率高、大大提高光纤全程测量和光纤运行情况检测效率的光纤测试连接装置。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：光纤测试连接装置，包括底板，所述底板上设有光纤对接装置，所述对接装置的上方设有测试压紧装置。

作为优选的改进，所述光纤对接装置包括所述底板上位于所述测试压紧装置两侧分别设有的对接台和预接台；所述对接台通过对接导轨滑动设置在所述底板上，所述对接台靠近所述测试压紧装置一端设有对接头，贯穿所述对接头排列设有若干对接孔，所述对接台上设有光纤对接放置长槽，所述光纤对接放置长槽延伸至所述对接孔远离所述测试压紧装置的一端，所述光纤对接放置长槽靠近所述对接头一端的上方设有光纤对接压板；所述预接台靠近所述测试压紧装置一端设有预接头，贯穿所述预接头排列设有与所述对接孔对应的预接孔，所述预接孔靠近所述测试压紧装置的一端连接有导引插管，所述预接台设有光纤预接放置长槽，所述光纤预接放置长槽延伸至所述预接孔远离所述测试压紧装置的一端，所述光纤预接放置长槽靠近所述预接头一端的上方设有光纤预接压板。

作为优选的改进，所述预接台通过预接导轨滑动设置在所述底板上。

作为优选的改进，所述测试压紧装置为一压盖，所述压盖与所述底板之间设有压紧螺栓。

作为优选的改进，所述压盖底部表面的两端分别倾斜设有导引斜面，所述对接头顶部表面设有与相邻所述导引斜面对应的对接斜面，所述预接头顶部表面设有与相邻所述导引斜面对应的预接斜面。

作为优选的改进，所述对接台与所述光纤对接压板之间设有压紧螺栓；所述预接台与所述光纤预接压板之间设有压紧螺栓。

作为优选的改进，所述光纤对接装置包括所述底板上设有的V型槽，所述V型槽的两端分别连接设有线槽，所述测试压紧装置包括所述底板上位于所述V型槽的上方设有透明板，所述透明板与所述底板之间设有压紧螺栓。

由于采用了上述技术方案，光纤测试连接装置，包括底板，所述底板上设有光纤对接装置，所述对接装置的上方设有测试压紧装置。本实用新型结构简单、操作灵活，被测光纤进行检测时能够与尾纤临时耦合对接，无需熔接，并且可以重复使用，使用成本低、携带方便、检测施工难度小、易操作，连接效率高、节省了光纤连接的时间、大大提高了光纤全程测量和光纤运行情况检测的效率。

附图说明

以下附图仅旨在于对本实用新型做示意性说明和解释，并不限定本实用新型的范围。其中：

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型除去盒体后的俯视图；

图3是本实用新型一实施例的结构示意图。

图中：1-盒体；2-底板；21-线槽；22-透明板；23-V型槽；3-对接台；31-对接导轨；32-光纤对接放置长槽；33-光纤对接压板；34-光纤对接导孔；35-对接孔；36-对接斜面；37-对接头；4-预接台；41-预接导轨；42-光纤预接放置长槽；43-光纤预接压板；44-光纤预接导孔；45-导引插管；46-预接斜面；47-预接头；48-预接孔；5-连接座；51-压盖；52-导引斜面。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，进一步阐述本实用新型。在下面的详细描述中，只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例。毋庸置疑，本领域的普通技术人员可以认识到，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，附图和描述在本质上是说明性的，而不是用于限制权利要求的保护范围。