[实用新型]一种带有辅助光源的粮食不完善粒检测板

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种检测板，尤其涉及一种带有辅助光源的粮食不完善粒检测板。

背景技术

目前，粮食行业对小麦、稻谷、玉米不完善粒，以及小麦软硬质剖粒检验、稻谷黄粒米、垩白、整精米粒、互混、大豆纯粮率等项目的质量检验，按照现有的试验方法和步骤的要求，首先将试样经过称重后放入普通的白瓷方盘中，由检验人员通过感官进行检验，当操作过程中遇到室内光照度不理想时，检验人员只能凭借工作经验来调整视线角度反复进行鉴别，费时费力，极易造成视觉疲劳，不但检测效率不高，同时还增加发生检验误差的几率，严重影响了粮食质量的正确判定。

实用新型内容

本实用新型目的是为了克服现有技术的不足而提供一种操作方便实用，能在低光源的检验环境下对粮食籽粒进行快速、高效以及准确检测的带有辅助光源的粮食不完善粒检测板。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种带有辅助光源的粮食不完善粒检测板，包括盖板、基座、基座底板、主板、台灯、放大镜、电子天平、计算器、镊子和解剖刀；所述盖板与基座通过铰链相连；所述基座下端连接有基座底板；所述基座内设有主板；所述主板包括玻璃面板、贴片灯条和底板；所述基座上还设有位于主板四周的台灯、放大镜、电子天平、计算器、镊子和解剖刀。

优选的，所述盖板内部设有磁性展板。

优选的，所述基座中间设有主板定位凹槽；所述基座两端设有插槽；所述主板通过插槽插入到主板定位凹槽内，并通过与插槽相配的插板固定在主板定位凹槽内。

优选的，所述基座上设有分别与台灯、放大镜、电子天平、计算器、镊子和解剖刀对应的台灯定位凹槽、放大镜定位凹槽、电子天平定位凹槽、计算器定位凹槽、镊子定位凹槽和解剖刀定位凹槽；所述台灯定位凹槽和放大镜定位凹槽位于基座前侧；所述镊子定位凹槽和解剖刀定位凹槽位于基座左侧；所述电子天平定位凹槽和计算器定位凹槽位于基座右侧。

优选的，所述放大镜包括外壳、镜片、镜框和LED灯。

优选的，所述主板与基座底板之间还设有通风层。

优选的，所述盖板为一长方形体，其材料为木质或PVC。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：本实用新型方案的带有辅助光源的粮食不完善粒检测板，可以使检验人员在低光源检验条件下，利用粮食籽粒检测板上主板提供的背光以及台灯提供的前光，提供多视角和全方位的光源条件，以便在粮食籽粒检测板上更加清晰地显示粮食不完善粒的外观和细节，从而有效改善不完善粒检验环境的光照度和检验人员的视觉效果，同时在粮食籽粒检测板中配置有检验项目所必需的辅助器材，供检验人员就近选择和方便使用，并且在粮食籽粒检测板中还提供了粮食不完善粒图谱及解析资料的展板，供检验人员在操作中参照比对和准确把握技术要领，有利于提高粮食不完善粒的检测水平和工作效率，从而达到快速、高效、准确的检验效果，满足了实际的检验需求。

附图说明

下面结合附图对本实用新型技术方案作进一步说明。

附图1为本实用新型带有辅助光源的粮食不完善粒检测板的结构示意图。

附图2为基座与基座底板连接的结构示意图。

附图3为插板与插槽连接的结构示意图。

其中：1、盖板；2、基座；3、基座底板；4、主板； 5、台灯；6、放大镜；7、电子天平；8、计算器；9、镊子；10、解剖刀；11、磁性展板；12、主板定位凹槽；13、插槽；14、插板；15、台灯定位凹槽；16、放大镜定位凹槽；17、电子天平定位凹槽；18、计算器定位凹槽；19、镊子定位凹槽；20、解剖刀定位凹槽；21、通风层。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。