[实用新型]圆度的测量装置有效
| 申请号: | 201520213322.4 | 申请日: | 2015-04-09 |
| 公开(公告)号: | CN204649152U | 公开(公告)日: | 2015-09-16 |
| 发明(设计)人: | 曹录民;曹诚 | 申请(专利权)人: | 曹录民 |
| 主分类号: | G01B7/28 | 分类号: | G01B7/28 |
| 代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 张海英;林波 |
| 地址: | 528000 广东省佛山市禅城*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测量 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及圆度测量技术领域,尤其涉及圆度的测量装置。
背景技术
圆度:是指工件的横截面接近理论圆的程度;圆度即最大半径与最小半径之差值。为了检测圆形物体的制造精度、受外力作用后的圆度变化,需对其进行圆度测量,现有技术中对圆度进行测量的装置主要是英国泰勒圆度仪,常用的圆度仪为转台式圆度仪,仪器工作时,传感器和侧头的位置固定不动,被测零件放置于回转工作台上,随工作台一起回转;采用转台式圆度仪的测量直径有限且工作台承重能力有限,无法实现对直径、重量大的物体进行圆度测量。而中心架、光学分度头、万能工具显微镜等都可以测圆度,但是这些同转台式圆度仪一样均是采用工件旋转,打表测圆度,这样的测量精度较低;因此现在广泛应用的的测量仪器是英国泰勒圆度仪,这是测量仪器旋转,但是工件不转;这样的测量装置测量的精度高;但是结构复杂,成本高。
发明内容
本实用新型的目的在于解决现有圆柱度测量精度不高,成本高等问题提出一种圆度的测量装置。
为达此目的,本实用新型采用以下技术方案:
圆度的测量装置,其包括工作台,工件夹持装置2和测量装置;所述工件夹持装置安装于所述工作台;所述测量装置安装于所述工件夹持装置;所述工件夹持装置夹持工件,所述测量装置测量所述工件的圆度;
所述测量装置包括转盘和电感测头;所述转盘安装于所述工件夹持装置的头架的主轴上,所述电感测头随所述转盘转动。
优选的,还包括电气部件、无线电接收模块和计算机;所述电气部件安装于所述转盘,其与电感线连接;所述无线电接收模块的输出端与所述计算机连接。
所述工件夹持装置包括头架、尾架、头架死顶尖和尾架死顶尖;所述头架和所述尾架安装于所述工作台;所述头架死顶尖安装固定于所述头架,所述尾架死顶尖安装固定于所述尾架,所述头架死顶尖和所述尾架死顶尖用于夹持所述工件。
优选的,所述测量装置还包括测杆和测杆架,所述测杆架安装于所述转盘;所述测杆架上安装有V型滑块,所述测杆安装于所述测杆架;所述电感测头安装于所述测杆
优选的,所述测量装置还包括挡块,所述挡块装于所述主轴上,位于所述转盘的右侧。
进一步优选的,所述头架的主轴上设置有轴肩;所述主轴穿过所述头架。
优选的,所述头架上安装有感应开关,所述转盘上安装有感应凸台。
优选的,所述测杆通过螺母安装于所述测杆架。
本实用新型通过采用测量装置绕工件旋转实现圆度的测量,结构简单,成本低;而且自动消除系统误差,提高了测量的精度。
附图说明
图1是本实用新型一个具体实施例的结构示意图。
图2是本实用新型一个具体实施例的部分结构示意图。
图3是圆度仪的结构示意图。
图4是凸轮的结构示意图。
其中:工作台1,工件夹持装置2,测量装置3,电气部件4,V型滑块5,感应凸台6,感应开关7,轴肩8,工作台9,转盘10,电压测头11,感应开关12,凸台13(9至13均为圆度仪上的标记),头架21,尾架22,头架死顶尖23,尾架死顶尖24,转盘31,电感测头32,测杆33、凸轮34、测杆架35、挡块36、基准件37,电感线100,拐点101。
具体实施方式
下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。
圆度的测量装置,其包括工作台1,工件夹持装置2和测量装置3;所述工件夹持装置2安装于所述工作台1;所述测量装置3安装于所述工件夹持装置2;所述工件夹持装置2夹持工件,所述测量装置3测量所述工件的圆度;
所述测量装置3包括转盘31和电感测头32;所述转盘31安装于所述工件夹持装置2的头架21的主轴上,所述电感测头33随所述转盘31转动。
(1)基准件的圆度误差f(x)基
如图3和图4所示,将凸轮34压配在基准件37的轴上,然后将所述基准件37安装于英国泰勒圆度仪的工作台9上,转动转盘10,使电感测头在凸轮C端找拐点101(凸轮最高点),找到拐点101后,所述转盘10不转动,将电感测头11移到P-P位,将所述转盘10的凸台13与装压在圆度仪机体上的感应开关12对准,采用一圈后,感应开关12发讯号,停止采用,圆度仪记录了基准件的f(x)基的误差曲线,最后将f(x)基存入U盘。
(2)本装置的系统误差f(x)系
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于曹录民,未经曹录民许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520213322.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种CCD镭射机构
- 下一篇:制孔执行器电主轴精度快速检测装置





