[实用新型]一种ADS_B测试仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种ADS_B测试仪。

背景技术

ADS_B测试仪通过发送模拟ADS_B相关报文及干扰信号，以验证，测试ADS_B接收设备的功能和性能，同时也可为ADS_B接收设备的维护和验收之用。该测试仪支持用户输入ADS_B信息(DF17/18)报文的相关内容，支持用户输入发送速率和内容可设置的A/C模式报文，发送速率和脉冲宽度可设置的窄脉冲、连续波等干扰信号类型。ADS_B测试仪可进行自动闭环测试和半自动测试。

发明内容

为了解决现有技术存在的问题，本发明提供了一种ADS_B测试仪，包括主机，显控终端，主机与显控终端之间通过网口或串口相连接，所述测试仪通过天线或者直线射频向ADS_B接收设备，所述测试仪主机包括频率综合器，程控衰减器，信号处理板和电源模块，其特征在于所述ADS_B测试仪通过设置两个通道发送不同信号混合输出。

如上所述的测试仪通过批量生成多个目标的位置、速率、状态等报文模拟实际发杂信号场景，并以此测试ADS_B接收设备的处理容量及数据吞吐能力。

如上所述的测试仪通过对比ADS_B测试仪编码数据与被测ADS_B接收设备的编码结果可判断报文解析的正确性。

如上所述的测试仪，通过闭环测试方式，对比发送和接收时间可实现测试ADS_B接收设备的处理延时。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

附图1：ADS_B测试仪的总体结构示意图

附图2：测试仪主机内部俯视图

附图3：测试仪主机内部剖面图

附图4：测试连接示意图

附图标号具有如下含义：

1：电源模块

2：信号处理板

3：接口板

4：频率综合器

5：程控衰减器

6：ADS_B测试仪

7：被测ADS_B

8：信号混合

9：显示终端

具体实施方式

ADS_B测试仪严格按照ICAOANNEX10、RTCADO-260、RTCADO-260A/B、EUROCONTROLASTERIXCategory021相关规范的要求，并结合ADS_B接收设备测试需求，能批量模拟机载应答机或ADS_BOUT设备发射ADS_B信号(DF17/18)、A/C信号及干扰信号，实现对ADS_B接收设备的接收性能测试。ADS_B测试仪支持用户自己设置报文间隔时间，发射频率，发射功率电平，支持以太网及串口通信。

如附图1所示，ADS_B测试仪包括主机、显控终端，主机与显控终端之间通过网口或串口相连接。被测试的对象是ADS_B接收设备，可通过天线或直连射频电缆向被测设备发送测试信号。

如附图2与附图3所示，测试仪主机由频率综合器、程控衰减器、信号处理板、电源模块组成。

本发明的ADS_B测试仪可以测试ADS_B接收设备信号处理能力，细分如下项目：

●目标处理能力(处理容量)

●抗干扰抑制能力

●报文解析正确性

●处理延时

ADS_B测试仪可通过批量生成多个目标的位置、速率、状态等报文模拟实际复杂信号场景，并以此测试ADS_B接收设备的处理容量及数据吞吐能力。ADS_B测试仪可通过设置两个通道发送不同信号混合输出实现模拟多径、A/C、随机脉冲等干扰环境，并以此测试ADS_B接收设备的抗干扰抑制能力。通过对比ADS_B测试仪编码数据与被测ADS_B接收设备的解码结果可判断报文解析的正确性。通过闭环测试方式，对比发送和接收时间可实现测试ADS_B接收设备的处理延时。测试连接示意图如附图4所示。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。