[实用新型]一种XRD可调式样品架

说明书

技术领域

本发明涉及一种XRD可调式样品架。

背景技术

XRD(X射线衍射仪，X-ray diffraction，简称XRD)，是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。

但是，X射线衍射仪在样品测试时，由于样品架中样品槽过大，造成对样品的需要量很大。但是，科研试验一般试验量较少，经常造成样品检测量不足，检测数据不准确。再者，微量样品架底部光滑，当样品架处于旋转检测状态时，检测物质容易从样品槽中滑落，检测数据不准确。最后，检测陶瓷表面的含量是，一般采用橡皮泥用于将陶瓷碎片粘到样品槽内，容易脱落，表面与样品架不平，检测数据不准确。

发明内容

本发明要解决的技术问题是如何克服现有技术存在的不足，提供一种XRD可调式样品架，能够根据样品量对药品槽进行调节，能够固定固体检测物，准确度增加。

本发明的技术解决方案是：一种XRD可调式样品架，包括样品架本体，所述样品架本体中心部位设有样品槽。本发明还包括螺栓、定位杆，所述样品槽上下贯穿，所述样品槽内设有螺纹，所述螺栓通过螺纹固定在所述样品槽下方，所述螺栓通过螺纹在所述样品槽内上下移动，所述样品架本体设有从边缘向样品槽横向贯穿的管道，所述定位杆位于管道内，所述定位杆包括顶片、弹簧和拉杆，所述顶片卡和在管道内端头，所述顶片与所述样品槽内壁相匹配，所述顶片表面组成槽内壁，所述顶片后端设有弹簧，所述顶片通过弹簧可伸入样品槽内，所述弹簧的后端固定在拉杆上，所述拉杆另一端伸出样品架本体外，所述拉杆通过若干个凸起固定卡和在样品架本体上。

作为优选：所述管道为两个，所述定位杆为两个，所述两个管道呈180°对称分布。

作为优选：所述管道为四个，所述定位杆为四个，所述两个管道间隔90°分布。

本发明采用螺栓安装在样品槽的下方，实现了螺栓的上下移动，从而调节样品槽的装载量，以适应不同量的样品检测。本设有的独特的定位杆，能够帮助固体检测物固定在样品槽内，采用至少两个的定位杆，双向固定固体检测物，比如陶瓷、金属片等。本发明设计独特、构思巧妙、简单实用，对于X射线衍射检测具有实质性的作用和重大的意义。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。

图1为本发明公开的一种XRD可调式样品架结构示意图；

具体实施方式

以下参照附图，详细说明本发明一种XRD可调式样品架。

一种XRD可调式样品架，包括样品架本体1，所述样品架本体1中心部位设有样品槽11。如图1所示，样品槽11内安装有螺栓12、定位杆13，螺栓12从样品槽11从下由上贯穿，所述样品槽11内设有螺纹，所述螺栓12通过螺纹固定在所述样品槽11下方，所述螺栓12通过螺纹在所述样品槽11内上下移动，这种过程实现了样品槽11的深浅，以适应不同检测量的样品。

为进一步固定固体样品如瓷器、金属片，所述样品架本体1设有从边缘向样品槽11横向贯穿的管道，所述定位杆13位于管道内，所述定位杆13包括顶片131、弹簧132和拉杆133，所述顶片131卡和在管道内端头，所述顶片131与所述样品槽11内壁相匹配，所述顶片131表面组成槽内壁，所述顶片131后端设有弹簧132，所述顶片131通过弹簧132可伸入样品槽11内，所述弹簧132的后端固定在拉杆133上，所述拉杆133另一端伸出样品架本体1外，所述拉杆133通过若干个凸起a固定卡和在样品架本体上。

所述管道14为两个，所述定位杆内13为两个，所述两个管道14呈180°对称分布，双向固定。

本发明使用时，将样品装入样品槽11内，旋转螺栓12，螺栓12由下向上运动，样品槽11越来越浅，直到样品与样品架本体1齐平，将样品表面压平，将样品架本体1放入XRD衍射仪中，检测即可。