[实用新型]一种调试板有效
| 申请号: | 201520154376.8 | 申请日: | 2015-03-18 | 
| 公开(公告)号: | CN204595681U | 公开(公告)日: | 2015-08-26 | 
| 发明(设计)人: | 熊德波 | 申请(专利权)人: | 深圳市创达天盛智能科技有限公司 | 
| 主分类号: | G06F1/16 | 分类号: | G06F1/16 | 
| 代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 张全文 | 
| 地址: | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 调试 | ||
技术领域
本实用新型属于调试板领域,尤其涉及一种调试板。
背景技术
现有调试板,可用于辅助软件开发,在主板上测试软件,并测试出需要运行时有误的地方,以修改编程中软件的代码。
然而,现有的调试板只有一种接口,只能完成一种调试功能,不利于调试板的高度集成。其原因在于,用于X86平台主板BIOS调试的是80port调试板,工程师开发不同的平台需要不同的调试板,不能接入不同接口,不利于调试板的高度集成,也不能满足目前日益增加的调试功能。
实用新型内容
本实用新型提供了一种调试板,旨在解决现有的调试板只有一种接口,只能完成一种调试功能,不利于调试板的高度集成问题。
为了解决上述技术问题,本实用新型是这样实现的:
一种调试板,外接主板,包括USB连接器、微处理芯片,所述调试板还包括:
连于所述USB连接器,将所述USB连接器中的USB接口转为JTAG接口的接口转换电路;
连接所述接口转换电路的JTAG接口;
所述JTAG接口与所述微处理芯片相连接,构成数据调试电路。
进一步地,所述调试板还包括LPC模块、LED显示驱动芯片以及LED模块组,所述LPC模块的输出端连接所述LED显示驱动芯片的输入端,所述LED显示驱动芯片的输出端连接所述LED模块组。
进一步地,所述接口转换电路采用芯片U1,所述JTAG接口采用接口J1,所述微处理芯片采用芯片U2;
所述芯片U1中的USB差分信号正端USBDP和USB差分信号负端USBDM分别连接所述USB连接器的正端和负端;
所述芯片U1的输出引脚ADBUS0、ADBUS1、ADBUS2、ADBUS3,分别连接所述接口J1中测试端口时钟信号输入端JTCK、测试端口数据信号输入端JTDI、测试端口数据信号输出端JTDO、JTAG测试端口模式开关信号输入端JTMS;
所述芯片U2的数据接收引脚RX和数据发送引脚TX,分别连接所述接口J1的数据发送引脚TX和数据接收引脚RX。
进一步地,所述LPC模块采用接口LPC,所述LED显示驱动芯片采用芯片U2,所述LED模块组采用LED;
所述接口LPC的接地引脚E1接地,LPC地址数据信号输出引脚E2、E3、E4、E5,分别连接所述芯片U3的LPC地址数据信号接收引脚LAD3、LAD2、LAD1、LAD2;
所述芯片U3的7段数码显示管驱动信号输出引脚LEDA、LEDB、LEDC、LEDE、LEDF、LEDG,分别连接所述LED中的数码显示管驱动信号接收引脚LEDA、LEDB、LEDC、LEDE、LEDF、LEDG。
进一步地,所述调试板中的SF100烧录器通过12脚FPC连接器与主板相连接。
进一步地,所述调试板中的按键通过连接器与主板电源按钮相连接。
在本实用新型中,将所述USB连接器中的USB接口转为JTAG接口的接口转换电路,所述JTAG接口与所述微处理芯片相连接,构成数据调试电路,使得微处理芯片可对USB接口和JTAG接口输入的数据进行处理,解决了现有的调试板只有一种接口,只能完成一种调试功能,不利于调试板的高度集成问题,将所述USB连接器中的USB接口和JTAG接口置于同一个调试板中,既提高了调试板中的集成程度,也能满足目前日益增加的调试功能。
附图说明
图1是本实用新型实施例一提供的调试板的结构图;
图2是本实用新型实施例二提供的调试板的电路图;
图3是本实用新型实施例三提供的调试板中LPC模块与LED模块组相连的电路图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
实施例一
参考图1,图1是本实用新型实施例一提供的调试板的电路结构图,为了便于说明,仅列出与本实用新型实施例相关的部分,详述如下:
一种调试板,外接主板,包括USB连接器1、微处理芯片4,所述调试板还包括:
连于所述USB连接器1,将所述USB连接器中的USB接口转为JTAG接口3的接口转换电路2;
连接所述接口转换电路2的JTAG接口3;
所述JTAG接口3与所述微处理芯片4相连接,构成数据调试电路。
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