[实用新型]一种用于纺织品检测的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于纺织品检测的装置。

背景技术

现有的纺织品检测装置较为简陋，其测试台不可调节，且需要烘箱等外部设备来进行样品干燥等辅助操作，集成度低。

发明内容

为了克服现有纺织品检测装置的上述不足，本实用新型提供一种测试台可调节、集成度高的用于纺织品检测的装置。

本实用新型解决其技术问题的技术方案是：一种用于纺织品检测的装置，包括操作台面，所述操作台面的背面设有支撑脚，其特征在于：所述的支撑脚上设有上搁板和下搁板，所述的上搁板上设有微波箱，在所述微波箱内其顶面设有微波管，该微波箱内还有转盘，所述的转盘上设有支架，所述的支架上设有坩埚；所述的下搁板上设有直立的电机，所述电机的输出轴从其上端面伸出并从所述微波箱的底面伸入所述的微波箱内，且所述电机的输出轴连接至所述转盘的底面的中央；

所述的操作台面上设有滑轨，所述的滑轨内滑设有滑块，所述滑轨的端面与所述滑块之间设有压簧从而使所述的滑块具有向外滑动的趋势；所述滑轨外侧的操作台面上设有螺块，所述的螺块开设有螺纹孔，所述的螺纹孔内穿设有横调螺杆，所述横调螺杆的头部顶住所述的滑块；

所述滑块的上端设有竖调螺杆，所述的竖调螺杆上螺设螺帽，所述螺帽的上端设有测试台；

所述操作台面的后缘枢接有辅助板，所述辅助板的上端设有当辅助板直立时向操作台面方向倾斜的斜板，所述的斜板上设有照明灯，当辅助板直立时所述的照明灯照向所述的操作台面；所述辅助板的下部设有定位块，所述辅助板直立时所述的定位块靠于所述的操作台面上从而将所述的辅助板定位；

所述支撑脚上设有与所述操作台面的后缘衔接的辅助台面。

进一步，所述的支架上设有坩埚凹口，所述的坩埚设于所述的坩埚凹口内。

本实用新型在使用时，首先将需要干燥的样品放置于微波箱的坩埚内，通过微波管进行干燥。之后将干燥完成的样品放置到测试台上进行检测，辅助板直立，照明灯照向所述的操作台面，利于检测。大片的样品可以放在操作台面进行检测，遇到更大的样品时可将辅助板横放，横放的辅助板支承在辅助台面上。转动横调螺杆将其推进，可将滑块向内推进，转动横调螺杆将其回退，在压簧的作用下滑块向外滑动，从而实现测试台的横向调节；通过转动所述的螺帽，可实现测试台的升降调节。

本实用新型的有益效果在于：集成了样品烘干装置，且便于对测试台进行调节。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图2是滑轨处的俯视图。

图3是微波箱的内部结构图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。

参照图1、图2、图3，一种用于纺织品检测的装置，包括操作台面1，所述操作台面1的背面设有支撑脚2，所述的支撑脚2上设有上搁板3和下搁板4，所述的上搁板3上设有微波箱5，在所述微波箱5内其顶面设有微波管6，该微波箱5内还有转盘7，所述的转盘7上设有支架8，所述的支架8上设有坩埚9，本实施例中所述的支架上设有坩埚凹口，所述的坩埚9设于所述的坩埚凹口内。所述的下搁板4上设有直立的电机10，所述电机10的输出轴从其上端面伸出并从所述微波箱5的底面伸入所述的微波箱5内，且所述电机10的输出轴连接至所述转盘7的底面的中央。

所述的操作台面1上设有滑轨11，所述的滑轨11内滑设有滑块12，所述滑轨11的端面与所述滑块12之间设有压簧13从而使所述的滑块12具有向外滑动的趋势；所述滑轨11外侧的操作台面上设有螺块14，所述的螺块14开设有螺纹孔，所述的螺纹孔内穿设有横调螺杆15，所述横调螺杆15的头部顶住所述的滑块12。

所述滑块12的上端设有竖调螺杆，所述的竖调螺杆上螺设螺帽16，所述螺帽16的上端设有测试台17。

所述操作台面1的后缘枢接有辅助板18，所述辅助板18的上端设有当辅助板直立时向操作台面方向倾斜的斜板19，所述的斜板19上设有照明灯20，当辅助板18直立时所述的照明灯20照向所述的操作台面；所述辅助板的下部设有定位块21，所述辅助板直立时所述的定位块21靠于所述的操作台面1上从而将所述的辅助板18定位。

所述支撑脚2上设有与所述操作台面的后缘衔接的辅助台面22。

在使用时，首先将需要干燥的样品放置于微波箱5的坩埚9内，通过微波管6进行干燥。之后将干燥完成的样品放置到测试台17上进行检测，辅助板18直立，照明灯20照向所述的操作台面，利于检测。大片的样品可以放在操作台面1进行检测，遇到更大的样品时可将辅助板18横放，横放的辅助板支承在辅助台面22上。转动横调螺杆15将其推进，可将滑块12向内推进，转动横调螺杆15将其回退，在压簧13的作用下滑块12向外滑动，从而实现测试台17的横向调节；通过转动所述的螺帽16，可实现测试台17的升降调节。