[实用新型]金属化薄膜表面电阻对比测试装置

权利要求书

1.一种金属化薄膜表面电阻对比测试装置，其特征是，包括：

用于测定电压与电流比值的电阻测试仪（1），所述电阻测试仪（1）设置有正极检测线（11）、负极检测线（12）以及分别连接所述正极检测线（11）和所述负极检测线（12）的正极检测头（31）和负极检测头（32）；

用于夹持被测试的金属化薄膜样品的测试夹持器具，所述测试夹持器具包括固定底座（4）、第一夹持片（5）和第二夹持片（6），所述第一夹持片（5）和所述第二夹持片（6）的两端均通过安装螺栓（7）固定连接所述固定底座（4），且所述第一夹持片（5）上设置有正极检测头滑槽（51），所述第二夹持片（6）上设置有负极检测头滑槽（61），且所述正极检测头滑槽（51）平行于所述负极检测头滑槽（61）；

所述正极检测头（31）和所述负极检测头（32）分别位于所述正极检测头滑槽（51）和所述负极检测头滑槽（61）中。

2.如权利要求1所述的金属化薄膜表面电阻对比测试装置，其特征是，所述正极检测头（31）和所述负极检测头（32）均包括球形触头（33）、导电柱（34）、以及包封所述球形触头（33）和所述导电柱（34）的绝缘块（35），所述绝缘块（35）包括限位帽（351）和配合所述正极检测头滑槽（51）或所述负极检测头滑槽（61）的限位滑块（352），所述球形触头（33）位于所述限位滑块（352）底部，所述限位滑块（352）位于所述正极检测头滑槽（51）或所述负极检测头滑槽（61）中，所述限位帽（351）的外径大于所述正极检测头滑槽（51）或所述负极检测头滑槽（61）的宽度且位于所述正极检测头滑槽（51）或所述负极检测头滑槽（61）上，所述导电柱（34）下端连接所述球形触头（33），所述导电柱（34）上端连接所述正极检测线（11）或所述负极检测线（12）。

3.如权利要求2所述的金属化薄膜表面电阻对比测试装置，其特征是，所述绝缘块（35）为陶瓷制成，所述限位滑块（352）为竖直设置的圆柱形结构，且所述限位滑块（352）的半径与所述正极检测头滑槽（51）和所述负极检测头滑槽（61）的宽度相等，所述球形触头（33）设置于所述限位滑块（352）的底面中心。

4.如权利要求3所述的金属化薄膜表面电阻对比测试装置，其特征是，所述固定底座（4）、所述第一夹持片（5）和所述第二夹持片（6）为金属制成，所述固定底座（4）的顶面设置有第一橡胶垫（41），所述第一夹持片（5）和所述第二夹持片（6）的底面设置有第二橡胶垫（42）。

5.如权利要求4所述的金属化薄膜表面电阻对比测试装置，其特征是，所述第一夹持片（5）和所述第二夹持片（6）上均设置有配合所述安装螺栓（7）的安装导套（71）。