[实用新型]金属化薄膜表面电阻检测头有效
申请号: | 201520121560.2 | 申请日: | 2015-03-02 |
公开(公告)号: | CN204422654U | 公开(公告)日: | 2015-06-24 |
发明(设计)人: | 张世铎 | 申请(专利权)人: | 黄山申格电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 无 | 代理人: | 无 |
地址: | 245000 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金属化 薄膜 表面电阻 检测 | ||
1.一种金属化薄膜表面电阻检测头,其特征是,包括:球形触头(11)、导电柱(12)、以及包封所述球形触头(11)和所述导电柱(12)的绝缘块(13),所述绝缘块(13)为陶瓷制成,所述球形触头(11)设置于所述绝缘块(13)的底部,所述导电柱(12)下端连接所述球形触头(11),所述导电柱(12)上端连接电阻检测设备的检测线(14)。
2.如权利要求1所述的金属化薄膜表面电阻检测头,其特征是,还包括用于放置检测头的检测支架,所述检测支架包括固定底座(21)和设置于所述固定底座(21)上方的夹持片(22),所述夹持片(22)的两端均通过安装螺栓(23)固定连接所述固定底座(21),且所述夹持片(22)上设置有检测头滑槽(24);
所述绝缘块(13)包括限位帽(131)和配合所述检测头滑槽(24)的限位滑块(132),所述球形触头(11)位于所述限位滑块(132)底部,所述限位滑块(132)位于所述检测头滑槽(24)中,所述限位帽(131)的外径大于所述检测头滑槽(24)的宽度且位于所述检测头滑槽(24)上。
3.如权利要求2所述的金属化薄膜表面电阻检测头,其特征是,所述限位滑块(132)为竖直设置的圆柱形结构,且所述限位滑块(132)的半径与所述检测头滑槽(24)的宽度相等,所述球形触头(11)设置于所述限位滑块(132)的底面中心。
4.如权利要求3所述的金属化薄膜表面电阻检测头,其特征是,所述固定底座(21)和所述夹持片(22)为金属制成,所述固定底座(21)的顶面设置有第一橡胶垫(25),所述夹持片(22)的底面设置有第二橡胶垫(26)。
5.如权利要求4所述的金属化薄膜表面电阻检测头,其特征是,所述夹持片(22)上设置有配合所述安装螺栓(23)的安装导套(27)。
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