[实用新型]具有上置式反射镜的扫描装置有效

专利信息
申请号: 201520119779.9 申请日: 2015-02-28
公开(公告)号: CN204392393U 公开(公告)日: 2015-06-10
发明(设计)人: 盛少澜;陈琰成 申请(专利权)人: 虹光精密工业股份有限公司
主分类号: H04N1/04 分类号: H04N1/04;H04N1/028;H04N1/031
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 张惠萍
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 具有 上置式 反射 扫描 装置
【权利要求书】:

1.一种扫描装置,其特征在于,包含:

光源,提供光线至原稿,所述光线的第一部分穿透所述原稿的孔洞而产生穿透光,所述光线的第二部分被所述原稿的非孔洞部分反射而产生第二反射光;

反射镜,反射所述穿透光而产生第一反射光;以及

光传感器,接收所述第一反射光及所述第二反射光而产生代表所述原稿的图像的有孔洞图像信号。

2.如权利要求1所述的扫描装置,其特征在于,所述光传感器的多个第一感测胞接收所述第一反射光而获得多个第一感测值,所述多个第一感测值达到饱和值,所述光传感器的多个第二感测胞接收所述第二反射光而获得多个第二感测值,且所述多个第二感测值中的任一个都没有达到所述饱和值。

3.如权利要求2所述的扫描装置,其特征在于,进一步包含:

控制处理模块,电连接至所述光传感器及所述光源,并对所述有孔洞图像信号执行去除孔洞处理而获得无孔洞图像信号。

4.如权利要求3所述的扫描装置,其特征在于,所述控制处理模块将所述多个第一感测值调整成标准白数值,以完成所述去除孔洞处理,所述标准白数值低于所述饱和值。

5.如权利要求3所述的扫描装置,其特征在于,所述控制处理模块将所述多个第一感测值调整成所述多个第二感测值中的最高感测值,以完成所述去除孔洞处理。

6.如权利要求3所述的扫描装置,其特征在于,所述控制处理模块将所述多个第一感测值调整成所述多个第二感测值中的多个相对高感测值的平均值,以完成所述去除孔洞处理。

7.如权利要求3所述的扫描装置,其特征在于,所述控制处理模块依据预定偏移参数决定所述有孔洞图像信号中的孔洞图像的位置。

8.如权利要求3所述的扫描装置,其特征在于,所述控制处理模块执行校正程序以获得校正结果,并依据所述校正结果调整该光源的亮度,以确保后续的所述多个第一感测值达到所述饱和值。

9.如权利要求1所述的扫描装置,是馈送式扫描仪,其特征在于,进一步包含:

馈送机构,其中所述光源、所述反射镜及所述光传感器是固定状的,且所述馈送机构馈送所述原稿通过所述光源、所述反射镜及所述光传感器的组合。

10.如权利要求1所述的扫描装置,是平台式扫描仪,其特征在于,进一步包含:

平台,所述原稿被置放于所述平台上;以及

驱动机构,驱动所述光源、所述反射镜及所述光传感器的组合通过所述原稿。

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