[实用新型]一种玻璃钢化设备用玻璃几何参数测量系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于玻璃几何参数的测量系统，具体涉及一种玻璃钢化设备用玻璃几何参数测量系统。

背景技术

目前，玻璃加工行业逐渐采用光源结合相机对玻璃的综合几何参数进行测量以达到在生产过程中实施控制的目的，例如，本申请人申请的中国专利：基于光电探测器阵列的玻璃外形检测装置，专利号为：201310079110.7，该方案采用光源和探测器进行检测，其中探测器和光源分布在被检测玻璃的两侧，探测器在检测过程中相对于机架保持不动，被检测玻璃在移动过程中完成检测，由于设计的不尽完善，该方案具有以下缺点：由于探测器包括多个由光滤波窗口、准直器和光敏单元构成的检测单元，多个检测单元纵向排列而成，由于每个检测单元都具有一个检测范围，必然导致任意两个检测单元之间会存在盲区，从而导致检测数据存在一定误差，这将导致测量的数据不精确。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种玻璃钢化设备用玻璃几何参数测量系统，该系统通过设置水平往复移动的探测器阵列，从而避免探测器采集玻璃信息时产生盲区，大大提高了探测器的检测准确率，其次探测器内部依次设置光滤波窗口、准直器和光敏单元，通过光滤波窗口避免环境光的影响，通过后准直器对环境杂散光进行有效遮挡，透过光更好的被光敏单元接收，从而对玻璃的外形轮廓进行有效地探测。

本实用新型所采用的技术方案为：一种玻璃钢化设备用玻璃几何参数测量系统，所述玻璃钢化设备包括加热段、钢化冷却段、玻璃输送装置及控制系统，所述玻璃输送装置由机架、辊道及驱动装置构成，玻璃通过辊道进行输送，该玻璃几何参数测量系统设置在所述玻璃钢化设备中用于将检测的玻璃负载信息传输至控制系统，所述玻璃几何参数测量系统由光源、用于读取玻璃负载信息的探测器、用于控制探测器运动的驱动机构和用于对测量数据进行处理的信息处理单元组成，所述探测器相对于所述机架做往复运动。

进一步优化该方案，所述玻璃输送装置上设置有旋转编码器，向所述控制系统反馈角位移信息。

    进一步优化该方案，所述探测器由壳体、光滤波窗口、准直器和光敏单元构成。

进一步优化该方案，所述光源和探测器分布在玻璃的上下两侧，光源的输出光照射在被检测玻璃上，探测器的采集面对应辊道间隙处的玻璃，用于接收光强度分布信息。

进一步优化该方案，所述光源和探测器设置在玻璃的同一侧，玻璃的另一侧设有背景板，该背景板是黑色或其它区别该玻璃表面的颜色，使得该探测器可直接或通过镜子读取到从玻璃反射的光强度分布信息。

进一步优化该方案，所述光源将光线施加在玻璃的下表面上，光源发出的光线经玻璃的下表面反射后，再次被镜子反射到位于玻璃下方的探测器。

进一步优化该方案，所述驱动机构，由电机、直线导轨和传动装置构成。

进一步优化该方案，所述探测器在平行于玻璃所在的平面内并沿垂直于玻璃运动方向做往复直线运动。

进一步优化该方案，所述驱动机构还设置有位移传感器。

进一步优化该方案，所述信息处理单元为PLC或工业计算机。

进一步优化该方案，所述信息处理单元包括积分放大模块和A/D转换模块，探测器内部的光敏单元输出的信号依次经积分放大模块和A/D转换模块处理后，输出数字信号给传输给控制系统。

   进一步优化该方案，所述光滤波窗口具有380nm-780nm的通带。

进一步优化该方案，所述准直器为准直透镜。

进一步优化该方案，所述光敏单元为光电二极管。

由于采用上述技术方案，本实用新型具备如下有益效果：

其一、通过设置水平往复移动的探测器阵列，从而避免探测器采集玻璃信息时产生盲区，大大提高了探测器的检测准确率。

其二、该玻璃外形检测装置的探测器内部光敏单元按照一定规则排列，通过光滤波窗口避免环境光的影响，通过后准直器对环境杂散光进行有效遮挡，探测器单元采用宽范围输出高速器件，通过高量化等级的A/D器件实现微弱光强度分布的高动态测量，提高玻璃外形识别的正确率。

其三、通过该装置测量负载信息时，在探测器内部设置的光滤波窗口具有380nm-780nm的通带，该光滤波窗口能够滤除大部分自然光，因此可以进一步降低自然光的影响，透过光更好的被光敏单元接收，从而对玻璃的外形轮廓进行有效地探测，而且测量过程中避免外界光线变化对系统测量精度的影响，提高测量玻璃外形的准确度。

附图说明

图1是本实用新型第一种实施方式的结构示意图。